Gebraucht TERADYNE J750 EX-HD #293586399 zu verkaufen

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Tester Computer: IG-XL HSD800: 1024 Channels (48) HDDPS (48) HDVIS (32) HDCTO (SRC) (8) HDCTO (4) DSMTO 8-Slots Module (2) J750 HDVIS Kits Air flow DPS control board High density CTO CTO Small slot filler board Computer workstation LCD Monitor Computer anthro cart KLA TENCOR Daemon tester HPC Probe tower HSD800: 1792 Channels (192) HDDPS (128) HDCTO (2) HDDPS: 24 Channels HSD800: (8) Digital instrument: 128 Channels (16) 64-Pins: 150 MHz (16) 64 Pins: 16 Mb LVM DSSC DSMTO Module.
TERADYNE J750 EX-HD ist eine Final Test-Ausrüstung, die für die Produktionsprüfung fortschrittlicher Halbleiterbauelemente entwickelt wurde. Dieses System arbeitet mit einer Kombination aus deterministischer Testlösung und nicht-deterministischen Testfunktionen, um höchste Qualität und zuverlässigste Ergebnisse für die heutigen fortschrittlichsten Chips zu gewährleisten. Es verfügt über eine Multithread-Architektur, um maximalen Durchsatz und Flexibilität für Kunden zu gewährleisten. Das Gerät verfügt über eine modulare Konfiguration, die es Kunden ermöglicht, die Maschine auf die Bedürfnisse ihrer jeweiligen Anwendung abzustimmen. Es ist mit einem 1.6GHz Pentium 4-Prozessor und bis zu 6 GB DDR2-Werkzeugspeicher ausgestattet, wodurch es die Macht erhält, große Testvektoren und mehrere Vektorsätze gleichzeitig zu handhaben. Um maximale Testgenauigkeit und Wiederholbarkeit zu gewährleisten, verfügt TERADYNE J750EX-HD auch über eine ultraschnelle PCI Express-basierte Datenerfassung und -kontrolle. Das Modell bietet auch eine Reihe von erweiterten Test- und Analysefunktionen, wie erweiterte Testplanungs- und Programmierwerkzeuge, Echtzeit-Datenanalyse und Wellenformerfassung sowie externe Stimulus-, Trigger- und Ausgabefunktionen. Darüber hinaus kann die Ausstattung um Testbibliotheken von Drittanbietern erweitert werden, darunter auch solche aus der IEEE Standard Test Library und verschiedene sogenannte „Golden Library“ -Angebote. Das System bietet auch integrierte Unterstützung für viele gängige Testpakete und -prinzipien, wie BIST, DC und AC-Tests. In Bezug auf die Testgeschwindigkeit bietet J 750 EX HD im Vergleich zu früheren Systemen derselben Serie einen bis zu viermal höheren Dauerdurchsatz und einen zehnmal höheren Spitzendurchsatz. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine verbesserte Signalintegrität dank optimierter Signalleitung und verbesserter Kabelführungs- und Kabellösungen. Darüber hinaus verfügt die Maschine über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, die für die einfache Einrichtung und Anpassung von Tests konzipiert ist. Diese Benutzeroberfläche ist browserbasiert und ermöglicht den Fernzugriff für die Überwachung, das Debuggen und die Kontrolle von Testprogrammen. Jede Instanz der Benutzeroberfläche verfügt auch über einen eigenen Verschlüsselungsschlüssel und ein Verbindungssicherheitsprotokoll, wodurch der Betrieb von jedem Ort aus sicher und sicher ist. Schließlich eignet sich das Tool für eine Vielzahl anspruchsvoller Anwendungen wie dynamische DSP-Tests (Digital Signal Processing), Hochgeschwindigkeits-Speichertests und Fehlerisolierungstests an mehreren Standorten. Seine hochzuverlässigen Komponenten und erweiterten Spannungs- und Leistungsabtastfunktionen machen es für die anspruchsvollsten Hochspannungs- und HF-Testanwendungen gut geeignet. All diese Funktionen machen J750 EX-HD Final Test Asset zu einem unglaublich leistungsfähigen, vielseitigen und zuverlässigen Werkzeug für die fortschrittlichsten Halbleitertestanwendungen.
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