Gebraucht TERADYNE J750 EX-HD #293600157 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 293600157
Tester
IGXL
KLA / TENCOR Daemon tester
HSD800:
(16) 64-Pins: 150 MHz
(16) 64-Pins: 16 MB LVM.
TERADYNE J750 EX-HD ist ein auf High-End-Anwendungen zugeschnittenes Endprüfgerät. Als Teil der neuesten Generation von Boundary Scannern verwendet es eine vielseitige modulare Architektur, um schnellere hochdichte Testfunktionen auf einer Reihe von Hochleistungsgeräten bereitzustellen. Das System verfügt über eine innovative Architektur, die zusätzliche Kapazität und Geschwindigkeit bietet und ausdrücklich für High-End-Geräte mit höheren Datenraten, mehr I/Os und bis zu achtmal so viel wie die beste Abdeckung entwickelt wurde. TERADYNE J750EX-HD verbindet sich mit einzelnen Komponenten oder kompletten Leiterplatten mit bis zu 440 Pins mit bis zu 8 Kanälen pro Gerät. Es ist mit einem Multi-Fach-Körper entworfen, so dass es entweder einen Schrank-Stil oder einen Schreibtisch-Stil Gesamthöhe und Fußabdruck verwenden. Das Gerät ist außerdem mit einem verstärkten 200-MHz-Modul ausgestattet, das 512K Speicher enthält. Dies bietet eine hohe Geschwindigkeit der Datenverarbeitungsfunktionen im Vergleich zu früheren Systemen. Es wird mit dem neuesten Quad-Core-Prozessor und einer Vielzahl fortschrittlicher Testfunktionen betrieben, darunter ein interner Prozessor, DDR4-Speicher, mehrere GO/NO-GOtest-Punkte, programmierbare Strom- und Spannungsmessungen, Wärmeschutz und mehr. J 750 EX HD bietet erweiterte Abdeckungsanalysen und zusätzliche Funktionen wie automatisierte Testoptimierung und automatische Kalibrierung. Es ermöglicht sowohl den manuellen als auch den automatisierten Testaufbau, integrierte thermische Analysen und eine einstellbare Testausführung. Die Maschine ermöglicht Tests bis zu 1000V Ausgangseinstellungen, 80A Teststrom und 16mΩmeasurement Genauigkeit, so dass es ideal für die Prüfung von High-End-Geräten. Das Tool bietet auch eine Reihe fortschrittlicher Workflow-Lösungen, die die Testzykluszeiten optimieren und sich wiederholende Aufgaben sowohl für integrierte als auch für Komponententests reduzieren. Mit der gleichen Bibliothek für Komponenten- und Asset-Level-Tests ermöglicht sie eine schnellere Testentwicklung, kürzere Validierungszeiten, einfachere Wartung und einfacheren Zugriff auf Daten. J750 EX-HD ist ein fortschrittliches Modell, das höchste Geschwindigkeit und Effizienz für Endtests, High-End-Gerätetests und Testanwendungen auf Komponentenebene bietet. Es wurde mit einer vielseitigen Architektur entwickelt, um eine verbesserte Produktivität und eine längere Produktlebensdauer bei gleichzeitiger Optimierung der Produktionskosten zu gewährleisten.
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