Gebraucht TERADYNE J750 EX-HD #9223829 zu verkaufen
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ID: 9223829
Weinlese: 2015
Tester
System: IG-XL
UI: Wafermap
(2) HDS800 (128 Ch / Board)
HDVIS
DPS
CUB
Pogo tower: LCD Driver PIB
PIB: LCD Driver device
#slot[.subslot] / Type / idprom (type rev company)
-1 / Sli / 239-624-00 1251-A 5445
0 / Channel / 615-988-01 1515-A 5445
0.0 / Cbmain / 615-793-02 1436-A 5445
0.1 / Cbrelay / 615-795-01 1333-A 5445
1 / Channel / 615-988-01 1413-A 5445
1.0 / Cbmain / 615-793-02 1413-A 5445
1.1 / Cbrelay / 615-795-01 1333-A 5445
18 / Cub / 621-917-01 1423-A 5445
22 / HDVIS / 517-440-00 0702-B 5445
2015 vintage.
TERADYNE J750 EX-HD ist eine umfassende Endprüfanlage, die den Herausforderungen in Produktionsumgebungen mit hoher Dichte gerecht wird. Es eignet sich für eine Vielzahl von aktiven Gerätetypen, darunter Mikrocontroller, Speichergeräte, Logikgeräte, Datenkonverter, Hochfrequenzgeräte (RF) und diskrete Komponenten. Das System ist in der Lage, Geräte mit hohen Stiftzahlen und Knoten mit Stiftgeschwindigkeiten bis zu 9ns zu testen. Darüber hinaus ist TERADYNE J750EX-HD mit einer Bandbreite von 2.2GHz ausgelegt, wodurch es in der Lage ist, Hochgeschwindigkeitstests durchzuführen. J 750 EX HD wird sowohl mit einem Pin-Station-Modul (PSM) als auch mit einem digitalen Signalprozessor (DSP) geliefert. Das PSM bietet Testdienste für Geräte-Pins, bietet erweiterte Spannung und CDM-Sensing und Tests. Der DSP ist in der Lage, Hochgeschwindigkeits-Reaktionszeittests zur Verfügung zu stellen, sowie die Fähigkeit, Testergebnisse zu erstellen, zu analysieren und zu speichern. TERADYNE J 750 EX HD ist mit einem erweiterbaren Testkopf hoher Dichte mit einer Reihe von Stiften ausgestattet, wodurch der Benutzer schnell und einfach Tests für alle aktiven Geräte erstellen kann. Das Gerät umfasst ISD-Dienste, die bis zu 8 gleichzeitige Tests ermöglichen und mit zusätzlichen parallelen Testfunktionen aufgerüstet werden können. Für eine Produktionslinie ist J750 EX-HD zudem mit einer ergonomisch gestalteten Test-Handler-Schnittstelle ausgestattet. Dies ermöglicht den einfachen Zugriff auf Testköpfe, Gerätehandhabung und Bedienung über eine einzige Benutzeroberfläche. Darüber hinaus unterstützt die Maschine optionale Kamerafunktionen, so dass der Benutzer fortgeschrittene Muster überprüfen und visuelle Inspektionen auf dem Gerät im Test durchführen kann. J750EX-HD umfasst auch eine integrierte Testmanagementumgebung (ITE). Diese Umgebung ermöglicht die Konstruktion, Ausführung, Steuerung und Analyse von Tests auf Makroebene. Das Tool enthält auch Verifikationstools, wie den Logikanalysator und den Fehlersucher, die ein schnelles Debuggen und Fehlersuche ermöglichen. TERADYNE J750 EX-HD verfügt zudem über erweiterte Servicefunktionen, die die Wartung und Überwachung von Testsystemen erleichtern. Schließlich bietet TERADYNE J750EX-HD Datenerfassung und -analyse in Echtzeit an. Auf diese Weise kann der Anwender Leistungs- und Qualitätstrends geräteweise überwachen. Darüber hinaus verfügt das Asset über eine Vielzahl von Modell-Sicherheitsfunktionen, darunter eine sichere, verschlüsselte LAN-Verbindung und einen Passwortschutz für alle Administratorkonten. In Summe ist J 750 EX HD ein fortschrittliches Endprüfgerät, das für Anwendungen mit hoher Dichte entwickelt wurde. Es ist in der Lage, Geräte mit hohen Pin-Zahlen und Durchsätzen mit erweiterten Servicefunktionen und verbesserten Sicherheitsmaßnahmen zu testen. Mit seiner ergonomischen Testhandler-Schnittstelle und vielseitigen Analysewerkzeugen ist TERADYNE J 750 EX HD eine ausgezeichnete Wahl für die Produktionsbahnprüfung.
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