Gebraucht TERADYNE J750 EX #9178166 zu verkaufen

TERADYNE J750 EX ist eine Endprüfeinrichtung, die die Anforderungen an Tests und Debugging von Hochgeschwindigkeits-komplexen ASICs (anwendungsspezifische integrierte Schaltungen) erfüllt. Mit seiner patentierten vektorbasierten Musterberechnungsengine und der ultraschnellen Testdrehzahl ist TERADYNE J750EX ideal zum Testen und Debuggen digitaler ICs der nächsten Generation. J 750 EX arbeitet in einer modular konfigurierbaren, automatisierten Testzellenumgebung mit allen vernetzten Komponenten und Systemen, die über eine intuitive, benutzerfreundliche Softwareschnittstelle verwaltet werden. Der Hauptkern des Testsystems besteht aus Mainframe-Einheit, einem Control Board, einer konfigurierbaren Tastkarte und einem Logikmodul. Die Mainframe-Maschine besteht aus neun Teststationen und zwei Dual-Port-Netzwerkschnittstellen, die eine Erweiterung und Anbindung an weitere Geräte ermöglichen. Der Mainframe unterstützt außerdem vier Drive-By-Verbindungen, wodurch die Verbindung und Konfiguration anderer Komponenten im Tool vereinfacht wird. Die Steuerung ist der Schlüssel zu den erweiterten Funktionen von J750EX. Dies beinhaltet leistungsstarke Programmierbarkeit und Testsequenzierungsfunktionen. Die Steuerkarte enthält auch eine eingebaute vektorbasierte Musterberechnungsmaschine, die hochzuverlässige Fehlerabdeckungsmessungen erzeugt. Die konfigurierbare Tastkarte und das Logikmodul bieten die notwendige Hardware, um Ihre Test- und Debugsysteme mit TERADYNE J 750 EX zu verbinden. J750 Simulationsmöglichkeiten von EX sind hoch fortgeschritten und können Echtzeitsimulationen von Schaltkreisen erstellen, um Testzeiten zu reduzieren und eine schnellere Lösung von Fehlerpunkten zu ermöglichen. TERADYNE J750 EX kann auch Tests durchführen, um Informationen für die Codeabdeckungsanalyse zu sammeln. Dieses Asset unterstützt auch Mixed-Signal-Debugging-Funktionen und bietet Einblicke in digitale und analoge Komponenten. Darüber hinaus bietet TERADYNE J750EX gleichzeitige Multi-Site-Testfunktionen, die es dem Benutzer ermöglichen, Tests an mehreren Standorten gleichzeitig auszuführen. Kurz gesagt, J 750 EX ist ein leistungsfähiges und umfassendes abschließendes Testmodell, das entwickelt wurde, um die fortschrittlichsten und komplexesten ASICs auf dem Markt zu testen und zu debuggen. Mit seiner vektorbasierten Musterberechnungsengine, Echtzeitsimulationen, Mixed-Signal-Debugging und gleichzeitigen Multi-Site-Testfunktionen ist J750EX eine ideale Lösung für alle Hochgeschwindigkeits- und hochkomplexen ASIC-Testanforderungen.