Gebraucht TERADYNE J750 EX #9272874 zu verkaufen

TERADYNE J750 EX ist eine fertige Testausrüstung der nächsten Generation, die für überlegene Genauigkeit, Leistung und Skalierbarkeit in dynamischen Wafer-Tests entwickelt wurde. Die Kombination aus fortschrittlicher Automatisierung und Testfähigkeit ermöglicht es TERADYNE J750EX, den Testprozess mit minimalem manuellen Eingriff abzuschließen. Die J 750 EX-Plattform wurde entwickelt, um ein optimales Gehäuse für Halbleiterpaket-Testsysteme bereitzustellen. Durch die Verwendung eines fortschrittlichen Echtzeitcontrollers und einer offenen Konstruktionsarchitektur ist es in der Lage, Testausführung, Auftragskontrolle und Auswahl der Prüfkarten unabhängig durchzuführen, was zu einer größeren Testabdeckung mit benutzerdefinierten Testsuiten führt. Als integrierte Wafer-Level-Testlösung verwendet das System die neuesten Testmethoden wie Logikvektor und In-Circuit-Tests, um die anspruchsvollen Anforderungen sowohl mobiler als auch Hochleistungsgeräte zu erfüllen. J750EX bietet genaue Testergebnisse mit einer Vielzahl von Anwendungen von den einfachsten bis hin zu den fortschrittlichsten Mikroprozessoren. Das Gerät ist in der Lage, Testanwendungen von einfachen Speichertests bis hin zu komplexen Gerätecharakterisierungs- und Ausbeute-Analysefunktionen durchzuführen. Es unterstützt die neuesten digitalen und analogen Schnittstellenstandards sowie eine breite Palette von Materialien und Gerätepaketen. Die Integration mehrerer Tester-Konfigurationen mit unterschiedlicher Stiftanzahl und Flexibilitätsanforderungen wird mit der fortschrittlichen Konfigurationsmaschine vereinfacht. Die hocheffiziente Kühlarchitektur des Werkzeugs reduziert Testzeiten und Energiekosten. TERADYNE J 750 EX verfügt über eine adaptive Teststeuerung, die zustandsbasierte Parameter wie Temperatur, Feuchtigkeit und andere Umweltparameter überwacht, um Testgenauigkeit und Wiederholbarkeit zu gewährleisten. Spezielle Schnittstellen ermöglichen die direkte Steuerung komplexer Anwendungsentwicklungstools und ermöglichen die Verbindung mit externen Geräten wie automatischem Wafer-Prober sowie Unternehmens- oder Werksnetzwerken. In der Lage, mehr als 9 Millionen Geräte innerhalb eines Tages zu testen, bietet das Modell etwa 400 Teststandorte und 300 Testressourcen pro Testgerät. J750 EX wurde entwickelt, um den Testdurchsatz, die Genauigkeit und die Erträge deutlich zu steigern. Entwickelt, um den Anforderungen moderner Engineering-Teams gerecht zu werden, bietet das System ein erhöhtes Maß an Integration, Flexibilität, Skalierbarkeit und Produktivität. Mit seinen fortschrittlichen Automatisierungs- und Testfunktionen kann TERADYNE J750 EX erhebliche Kosteneinsparungen und eine verbesserte Produktqualität bieten.