Gebraucht TERADYNE J750 EX #9311622 zu verkaufen

Hersteller
TERADYNE
Modell
J750 EX
ID: 9311622
Tester Test head size: 1024 Channels Channel board: 512 Channels Slot / Subslot / Type / Revision -1 / Sli / 239-624-00 / 1251-A 0 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 0 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 1 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 1 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 2 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 2 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 3 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 3 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 4 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 4 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 5 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 5 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 6 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 6 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 7 / Channel / 239-700-04 / 1419-B 7 / Terminator / 239-701-50 / 0838-A 18 / CUB / 239-020-09 / 1423-H 22 / DPS / 239-016-06 / 1414-F 23 / DPS / 239-016-06 / 1414-F.
TERADYNE J750 EX ist ein Hochleistungs-Automatik-Testgerät, das für die „Endprüfung“ von fortschrittlichen elektronischen Geräten entwickelt wurde. Es basiert auf der branchenerprobten, flexiblen J750 Plattform TERADYNE. Das System bietet eine Kombination aus Geschwindigkeit, Präzision, Vielseitigkeit und Zuverlässigkeit auf kompakter Fläche. Entwickelt, um die Anforderungen einer breiten Palette von Halbleiter- und anderen elektronischen Geräteherstellern zu erfüllen, ist TERADYNE J750EX in der Lage, eine Vielzahl von Geräten wie DRAMs, Flash-Speicher, ROMs, MCUs, CPLDs, Diskrete und Mikro-Controller zu testen. Unter Verwendung einer patentierten, laserbasierten Architektur verwendet das Gerät eine skalierbare, Multiport-Maschinenkonfiguration und mehrere Datenbusse. J 750 EX bietet Hochgeschwindigkeitsfunktionen mit dem schnellsten trockenen Waferdurchsatz in der Branche. Sein fortschrittliches 2-teiliges Testmoduldesign ermöglicht hochdichte Stiftdichten von bis zu 400 Pins pro Zoll auf beiden Seiten des Geräts gleichzeitig und sein integriertes Hochspannungsdesign hat die Flexibilität, mehrere Spannungspegel gleichzeitig zu unterstützen. Das Tool umfasst eine breite Palette integrierter Module wie MicroScope-modulierte Spannungsnetze, Mikrowellenfrequenz-Testmodule, Flexsonden, entwickelte Testmodulsysteme und eine Vielzahl von Testadaptern. Es bietet auch eine breite Palette von Programmieroptionen, einschließlich Fernprogrammierung über seine erweiterte Network CommandCenter (NCC) Software, ProCOM Datenbankunterstützung und eine Vielzahl standardisierter Programmiersprachen. J750EX enthält eine leistungsstarke Diagnose für automatisierte Ursachenanalyse und Reparatur. Die proprietäre SCRIBE Software-Suite bietet eine umfassende Diagnosediagnose sowie grafische Fehlererkennung und -analyse in Echtzeit. Ein integriertes Datenanalysepaket ermöglicht die statistische Analyse und Berichterstattung von Leistungsdaten, um Prozessverbesserungen zu ermöglichen. J750 EX ist mit einer flexiblen, konfigurierbaren Asset-Architektur ausgestattet, die es ermöglicht, sich einfach an die Kundenanforderungen anzupassen und somit eine ideale Lösung für die heutigen anspruchsvollen Testanforderungen zu sein. Die Ergänzung der automatisierten Werkzeugtechnik ist eine ideale Lösung für mehrachsige, mehrachsige Automobil- und Medizinprodukteprüfungen. Das Modell bietet eine unübertroffene Kombination von Funktionen und ist damit Marktführer für Testsysteme. Die Kombination aus fortschrittlichen Technologien, Ausrüstungsleistung, Diagnose, Programmierung und anpassbaren Architekturen machen TERADYNE J 750 EX zum idealen System für Elektronikhersteller.
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