Gebraucht TERADYNE J750 #9167072 zu verkaufen

TERADYNE J750 Final Test Equipment ist eine Test- und Inspektionsplattform der nächsten Generation, die eine überlegene Testabdeckung bietet und die Ausbeute an Bauelementen für komplexe Halbleiterbauelemente verbessert. Es ist ein skalierbarer Hochdurchsatz-Tester mit einem kleinen Platzbedarf, der ideal ist, um die heutigen Pakete mit kleinem Formfaktor zu testen. TERADYNE J 750 ist ideal zum Testen eines breiten Anwendungsspektrums und bietet eine vorhersehbare, risikoarme Lösung zum Testen der Low-Pin-Anzahl durch Halbleiterbauelemente mit hoher Zählung. Das System nutzt eine optimierte Architektur, um eine höhere Testgenauigkeit, geringere Testkosten und eine erhöhte Testabdeckung zu erreichen, was zu einer Erhöhung der Geräteausbeute führt. J750 zeigt einen schnelllaufenden Digitalsignalverarbeiter (DSP) chipset, um Testmuster für hohe Nadelzählungsgeräte schnell zu bearbeiten. Das Gerät nutzt eine Echtzeit-Testsequenzierungs- und Steuerungsmaschine, die zur Unterstützung fortschrittlicher Testalgorithmen und robuster Diagnostik entwickelt wurde und es Anwendern ermöglicht, die neuesten Testinnovationen zu nutzen. Das fortschrittliche Regel- und Messwerkzeug sorgt für schnelle und genaue Testergebnisse. J 750 bietet die Flexibilität, kundenspezifische Testlösungen einfach in die Testarchitektur zu integrieren, sodass Benutzer ihre Testabdeckung noch weiter erhöhen können. Eine intuitive und einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche vereinfacht das Debuggen und die Fehlerbehebung und hilft Benutzern, die Produktivität zu steigern. Außerdem steht eine umfangreiche Bibliothek mit benutzerdefinierten Gerätetreibern für das Asset zur Verfügung, die eine schnelle und nahtlose Integration von Geräten in das Testmodell ermöglicht. TERADYNE J750 Final Test Equipment ist eine leistungsstarke, zuverlässige und kostengünstige Test- und Inspektionslösung. Dank seiner fortschrittlichen Architektur und Fähigkeiten ist es das ideale System, um die heutigen hochkomplexen Halbleiterbauelemente zu testen, sodass Anwender die Geräteausbeute bei minimalem Risiko maximieren können.