Gebraucht TERADYNE J750 #9179290 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9179290
Weinlese: 2004
Tester
(4) Channel boards: 16M
(4) HSD 100 (239-026-03 .16 Meg LVM)
256 Channel with 239-236-00
With 16 M LVM
DPS Board
MTO
CTO
Engineering cart
Work station: W6200
Manipulator intent
Computer: XW 6000
#slot[.subslot] Type idprom
-1 sli 239-624-00
0 channel 239-026-03
1 channel 239-026-03
4 channel 239-026-03
5 channel 239-026-03
17 cto 239-029-02
18 cub 239-020-06
22 dps 239-016-03
2004 vintage.
TERADYNE J750 ist eine Endprüfanlage der nächsten Generation für Produktions- und Burn-in-Prozesse, die hohe Qualitätsresultate für komplexe elektronische Geräte gewährleistet. Mit vier Testmodulen kann TERADYNE J 750 einzelne oder komplexe Funktionen automatisieren, um Fehler zu reduzieren und die Produktqualität zu verbessern. Die integrierte Testarchitektur von J750 ermöglicht es, gleichzeitig eine Vielzahl von Testfunktionen zu messen und auszuwerten. Das System kann bis zu 4800 Elektroden pro Modul messen und ist für den Betrieb mit einer Vielzahl von Gerätetypen und Anwendungen konzipiert. Die vier Testmodule integrieren Hochgeschwindigkeitsspeicher- und Logiktests, In-Unit-Tests und umfassende Tests von Gerätepins, Netzen, Bonds und Pins. Die Vier-Module-Konfiguration ermöglicht den einfachen Einsatz in Produktionslinien und die Maschine kann für spezielle Anwendungen angepasst werden. J 750 verfügt über ein Handler-Management für integrierte Schaltungen (IC), das die Automatisierung der Erfassung, Auswertung und des Transports von Testdaten ermöglicht. Das IC Handler Management-Modul bietet leistungsstarke Tools zur Steuerung des Testprozesses, einschließlich Zugriff auf IC Handler-Protokolle, IC Handler-Warteschlangenverwaltung, Terminplanung und IC Handler-Verwaltung. IC Handler Management hilft auch, Testzeit zu reduzieren und kann mit anderen TERADYNE Testmodulen integriert werden, um eine komplette Testlösung bereitzustellen. TERADYNE J750 bietet mit seiner PLD-Debug-Funktion (Programmable Logic Design) erweiterte Debugging-Funktionen. Die PLD-Debug-Funktionen bieten eine grafische Umgebung, in der bis zu 16 Geräte angezeigt werden können. Die grafische Umgebung ermöglicht es Benutzern, Fehler im PLD-Design schnell und einfach zu beheben. Es ist auch in der Lage, Geräteparameter für mehrere Geräte für weitere Debugging-Zwecke konsequent zu messen und zu melden. TERADYNE J 750 bietet auch eine erweiterte Testabdeckung, die hilft, Testzeiten zu reduzieren und die Qualitätskontrolle zu verbessern. J750 ist in der Lage, mehr als 650.000 gleichzeitige Tests pro Werkzeug durchzuführen und bietet eine detaillierte Testabdeckung für eine breite Palette von elektronischen Geräten. Mit seinen Hochgeschwindigkeitssondenkarten maximiert J 750 die Testgenauigkeit und den Durchsatz. TERADYNE J750 ist eine Hochleistungs-Testlösung der nächsten Generation, die effiziente, zuverlässige Tests und verbesserte Produktqualität bietet. Mit vier Testmodulen und integriertem Schaltungshandler-Management bietet TERADYNE J 750 ein hohes Maß an Flexibilität und sorgt für maximale Testabdeckung und Genauigkeit bei gleichzeitiger Kostensenkung und Verbesserung der Qualitätskontrolle.
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