Gebraucht TERADYNE J750 #9228119 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom


Verkauft
ID: 9228119
Tester
Testhead frame: 512 Frame
16M LVM
100 MHz
(8) Channel cards
(4) DPS
CTO
Cal cub
Workstation: XW6000
Manipulator: YAC.
TERADYNE J750 ist ein fortschrittliches, automatisiertes und effizientes Endprüfgerät, das eine Vielzahl von Produkten testen kann, von Mikrocontrollern und Speicherkomponenten bis hin zu digitalen Displays und Hochgeschwindigkeitslogik. TERADYNE J 750 wurde entwickelt, um einen hohen Durchsatz, schnelle Zykluszeiten und niedrige Testkosten bereitzustellen und ermöglicht kostengünstige Tests einer breiten Palette von elektronischen Geräten. Es ist auch sehr flexibel, so dass der Test-Kunde leicht hinzufügen und löschen Tests ihrer spezifischen Geräte. Das System ist in der Lage, Funktionstests, digitale Funktionstests, parametrische Messungen, analoge Funktionstests, Verbindungstests und Fehlerisolierung in sehr kurzer Zeit durchzuführen. J750 verfügt über eine zuverlässige Plattform, die Ausfallzeiten reduziert und den Durchsatz für die heutigen Umgebungen mit hohem Volumen erhöht. Seine verteilte Rechenarchitektur ermöglicht die Skalierung mit zusätzlichen Testmodulen, Maximierung des Durchsatzes und Reaktionszeit nach den Anforderungen des Benutzers. Die Skalierbarkeit des Geräts ermöglicht es dem Kunden auch, aus der Anzahl der Konfigurationen auszuwählen, die ihren Testanforderungen und budgetären Einschränkungen entsprechen. J 750 kombiniert die fortschrittliche Technologie und Modularität der heutigen automatisierten Testsysteme mit interaktiver und benutzerfreundlicher Testprogrammierung und Benutzeroberflächen. Die Systemhardware und -software wurden mit Standard Test Programming Language konzipiert (STPL) und Standard Interactive Debugging Language (SIDL), die die schnelle und einfache Automatisierung von Tests für verschiedene Arten von Geräten ermöglichen und eine flexible und wirtschaftliche Umgebung für neue und bestehende Testanforderungen schaffen, um sicherzustellen, dass der Kunde sowohl aus Anwendungssicht als auch aus Kostensicht das Beste aus der Testmaschine herausholt. TERADYNE J750 bietet auch eine breite Palette von Fehlerisolierung und Debug-Tools, so dass der Benutzer schneller erkennen und beheben potenzielle Fehler. Diese Debug-Funktionen umfassen vollständige Probe-Konnektivität, umfassende Bit-Muster-Visualisierung, ausgeklügelte Fehlerisolierungsalgorithmen und detaillierte funktionale Fehlerbehebungsfunktion. Das Tool bietet auch ein erweitertes Automatisierungspaket und ermöglicht es Benutzern, Hunderte von DUTs mit einem Testingenieur nahtlos zu verwalten, indem sie konzentrierte Skripte verwenden und die Ressourcennutzung maximieren. Dieses Paket enthält auch TOP Fail Feature, ein leistungsstarkes Feature-Tracking-Modell, das Testergebnisse zusammenfasst und den Durchsatz und die Produktivität der Ausrüstung verbessert. TERADYNE J 750 macht es einfach, In-Circuit-Test zu integrieren und kostengünstige Tests von gemischten Technologien bereitzustellen. Das System kann problemlos mit anderen TERADYNE-Systemen oder In-Circuit-Testern von Drittanbietern verbunden werden, sodass Kunden starre, flexible und BGA-Boards mit derselben Plattform nahtlos testen können. Es unterstützt auch die Prüfung von großen Platinen mit einer minimalen Menge an Dedicated-Pin-Sondierung. Insgesamt ist J750 eine leistungsstarke, vielseitige und zuverlässige Endprüfeinheit, die entwickelt wurde, um eine robuste und kosteneffiziente Lösung für die heutigen komplexen Testumgebungen zu bieten. Es kombiniert fortschrittliche Technologie, flexible Skalierbarkeit und intuitive Software, um schnelle und effiziente Tests für eine breite Palette von Produkten zu liefern. Die Maschine eignet sich gut für großvolumige Testumgebungen und für die Kunden, die eine zuverlässige und zukunftssichere Testlösung benötigen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor