Gebraucht TERADYNE J750 #9236117 zu verkaufen
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TERADYNE J750 ist eine fortschrittliche Final Test-Ausrüstung, die zur Prüfung der Qualität und Zuverlässigkeit der hergestellten Werkzeuge, Verpackungen und Module in der Halbleiterindustrie verwendet wird. Es wird verwendet, um Fehler in einem Chip, Paket oder Modul zu erkennen, die sonst möglicherweise unbemerkt geblieben sind. TERADYNE J 750 ist in der Lage, eine Vielzahl von Stempeln zu testen, sowohl verpackt als auch unverpackt. Das System verfügt über drei verschiedene Testmethoden: Funktionstest, parametrischer Test und optischer Test. Der Funktionstest misst die Funktionalität des Geräts anhand vordefinierter Kriterien, um sicherzustellen, dass das Gerät ordnungsgemäß arbeitet. Der parametrische Test misst die Leistung innerhalb des parametrischen Bereichs des Geräts, wie Spannung, Strom und Leistung, um sicherzustellen, dass das Gerät ordnungsgemäß funktioniert. Der optische Test verwendet optische Inspektionswerkzeuge, um physikalische Anomalien zu erkennen, die auf dem Gerät vorhanden sein können. J750 hat zwei matrixsteuernde Hochleistungstechnologien: eine parallele Hochleistungstestarchitektur und eine Seriensubstratanzeigetafelnarchitektur. Die parallele Testarchitektur kann bis zu 960 Geräte pro Sekunde testen, während die Serial Substrate Scoreboard-Architektur bis zu 7,2 Milliarden Geräte pro Sekunde testen kann. Diese unglaublich schnellen Testgeschwindigkeiten stellen sicher, dass J 750 mögliche Fehler in einem Gerät schnell und genau erkennen kann. Das Gerät kann auch grundlegende Diagnosen an Geräten durchführen, um die Ursache von Fehlern zu ermitteln. Dies geschieht, indem Spannung oder Strom eingespritzt und dann die Ergebnisse beobachtet werden. Darüber hinaus verfügt die Maschine über eine integrierte Fertigungsschnittstelle, mit der sie einfach an die Fertigungslinie für automatisierte Tests angeschlossen werden kann. TERADYNE J750 ist ein fortschrittliches und robustes Werkzeug mit einer außergewöhnlich hohen Haltbarkeit. Die Anlage ist zudem äußerst zuverlässig und in der Lage, bis zu 40 Millionen Geräte durchgängig ohne Wartungsbedarf zu testen. Dieses Modell ist eine ideale Wahl für Halbleiterhersteller aufgrund seiner Fähigkeit, Fehler mit minimalem Aufwand und Ausfallzeiten schnell und genau zu erkennen.
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