Gebraucht TERADYNE J750 #9315889 zu verkaufen

TERADYNE J750 ist eine abschließende Testausrüstung, die kostengünstige, skalierbare Testlösungen für hochkomplexe Designs und Geräte-/Konnektivitätsanwendungen bereitstellt. Das System bietet eine optimierte Kombination aus analoger, digitaler, MEM-, RF- und optischer Testtechnologie sowie Hochleistungs-In-Circuit-Tests, um die ultimative Abdeckung für alle Testanwendungen zu bieten. TERADYNE J 750 Final Test Unit wird durch eine umfangreiche Suite von Anwendungssoftware und Design-Tools unterstützt, so dass die Maschine mit der bestehenden Testumgebung und vorhandenen Testausrüstung des Kunden Schnittstelle. Im Mittelpunkt des Tools steht ein Hochgeschwindigkeits-Controller, der bis zu 32 Giga Sample pro Sekunde (GSPS) liefert und dabei bis zu 1.024 Pins und 16 nicht-Pin-I/O-Kanäle handhabt, was zu einem Asset mit überlegener Leistung und geringem Overhead führt. J750 verfügt auch über anspruchsvolle interne ATPG-Algorithmen (Automatic Test Pattern Generation) für die analogen, digitalen, MEMS und HF-Testkanäle, die eine maximale Testabdeckung ermöglichen. Die dynamischen, aber effizienten Testmuster ermöglichen auch eine leistungsarme Testumgebung, was J 750 zu einer idealen Wahl für leistungshungrige Anwendungen macht. Die integrierte Smart Memory und Ethernet-Konnektivität bietet einen weiteren Vorteil gegenüber konkurrierenden Lösungen, sodass Kunden ihre bestehenden Testprogramme mit einer einfach zu verwaltenden Softwarebibliothek integrieren können. Darüber hinaus verfügt TERADYNE J750 über einen integrierten Wellenformgenerator, der in der Lage ist, bis zu 20 verschiedene Arten von Wellenformen sowohl in den analogen als auch in den digitalen Domänen zu generieren, was eine schnellere, umfassendere Debugging und Produktionstests ermöglicht. TERADYNE J 750 verfügt auch über eine erweiterte Fehlerabdeckungsanalyse (FCA) mit automatisierter Fehlerabbildung und Übersprech-/Schiefererkennung, die bei der Analyse komplexer Konstruktionsfehler unterstützt. Die FIST-Fähigkeit (Fault Isolation Stress Test) erhöht auch die Zuverlässigkeit von Testergebnissen, die Fehlfehler, Fehlfunde und sondierungsbedingte Fehler reduzieren. Darüber hinaus nutzt J750 die patentierte „Loop-Through“ -Testarchitektur, die erweiterte Tests von Multi-Channel-Geräten schnell und effektiv ermöglicht. Abschließend ist J 750 R750 ein umfassendes, kostengünstiges und zuverlässiges abschließendes Testmodell, das sowohl für IoT/Connectivity-Anwendungen als auch für komplexe Gerätedesigns entwickelt wurde. Zu den Funktionen gehören automatisiertes ATPG, intelligenter Speicher, eine Vielzahl von Wellenformgeneratoren, FCA-Funktionen, FIST, Schleifentests und fortschrittliche Testsoftware, die eine integrierte Testentwicklung und eine reibungslose Integration in bestehende Testumgebungen ermöglicht.