Gebraucht TERADYNE J750 #9374920 zu verkaufen

TERADYNE J750 ist eine vollautomatische, Hochgeschwindigkeits-Endprüfanlage, die zur Prüfung von hochvolumigen, hochdichten Halbleiterbauelementen geeignet ist. Dieses System wurde entwickelt, um die Testzeit erheblich zu reduzieren, die Beteiligung des Bedieners zu minimieren und die höchste Qualität des Gerätetests und Debuggens sicherzustellen. TERADYNE J 750 ist eine computergesteuerte, vollautomatische Einheit, die sowohl für Einzelwerkzeug- als auch für Wafertests ohne manuellen Eingriff entwickelt wurde. Es handelt sich um eine automatische Testmaschine mit hohem Durchsatz, die mit einem Multi-Sonden-Gerätetester und einem berührungslosen Oszilloskop ausgestattet ist und eine schnelle und genaue Prüfung von integrierten Schaltungen und Geräten ermöglicht. Das Werkzeug enthält eine HF-Messanlage und einen Hochleistungsspannungszähler, um zusätzliche Testfunktionen bereitzustellen. Die stark verbesserte Geschwindigkeit des Modells reduziert die Testzeiten und verbessert den Durchsatz. J750 Tester ist mit einer Multisonden-Prüfstation, einem Hochgeschwindigkeits-berührungslosen Oszilloskop, einer digitalen Steuereinrichtung und einem HF-Messsystem ausgestattet, das es dem Gerät ermöglicht, mehrere Stempel gleichzeitig zu testen und gleichzeitig eine flexible Testlösung bereitzustellen. Die Maschine verfügt über eine umfangreiche Testabdeckung, mit der sie komplexe Geräteeigenschaften bis 6GHz genau messen kann. Die Multi-Sonden-Teststation ermöglicht eine schnelle und genaue Prüfung mehrerer Werkzeuge gleichzeitig, wodurch J 750 einen maximalen Durchsatz von 600 DUTs pro Stunde erhält. Dieser verbesserte Durchsatz reduziert die Zeit zum Testen und Debuggen eines Geräts erheblich und reduziert somit Testzeit und -kosten. Der Multisondenarm bietet auch ein alternatives Verfahren zur Prüfung von nicht standardförmigen oder verpackten Geräten. TERADYNE J750 verfügt zudem über eine automatisierte Ablaufsteuerung, die eine effiziente Programmierung der Testsysteme ermöglicht. Dieser Controller ermöglicht benutzerdefinierte Tests, nicht nur für Einzelwerkzeuge, sondern auch für Wafer-Level-Tests. Die Software ermöglicht auch die Einstellung und Überwachung bestimmter Testparameter während der Tests. Das Tool ist mit einer ausgeklügelten Testdiagnostik ausgestattet, mit der Ingenieure Fehler schnell erkennen und detaillierte Informationen darüber liefern können, wie sie aufgetreten sind. Dazu gehören Positionsinformationen und Messungen zur Position der Sonden und Geräte. Insgesamt bietet TERADYNE J 750 eine flexible Hochgeschwindigkeits-Hochdurchsatzlösung zum Testen von integrierten Schaltungen und Geräten auf mehreren Werkzeug- und Waferebene. Mit seinem vollautomatischen Design und der umfassenden Testdiagnose minimiert das Asset Zeit und Kosten für Test und Debug und bietet Ingenieuren eine leistungsfähige Testlösung für die effiziente Prüfung von hochvolumigen Halbleiterbauelementen.