Gebraucht TERADYNE J750 #9411726 zu verkaufen

Hersteller
TERADYNE
Modell
J750
ID: 9411726
Tester (4) HSD100/16 meg DPS.
TERADYNE J750 Final Test Equipment ist eine mobile, leistungsfähige Endprüflösung zum Testen einer Vielzahl von heutigen komplexen System-on-Chip (SoC) -Designs. Mit bis zu vier Testköpfen ist TERADYNE J 750 in der Lage, Mixed-Signal-Testszenarien zu simulieren, was eine verbesserte Silizium-Produktivität über mehrere Segmente hinweg ermöglicht. J750 verfügt über Hochleistungsspeicher, der mehrere Geräte gleichzeitig testen kann, wodurch die Testzeit in gemischten Signalumgebungen reduziert wird. Darüber hinaus bietet es einen geringen Stromverbrauch für höhere Effizienz sowie erweiterte Datenverwaltungstools für eine verbesserte Qualitätssicherung und Prozesskontrolle. Die Testeinheit nutzt einen einzigartigen hardwareunterstützten Testansatz, der extrem kurze Testzeiten erzielt. Dies wird durch eine Kombination aus Geschwindigkeit, Skalierbarkeit, Frequenz und Speicherfunktionen in J 750-Maschinen ermöglicht. Das Tool ist mit einem Hochgeschwindigkeits-ARM-basierten Asset mit variabler Vektorlogik konfiguriert, das Benutzern die Skalierbarkeit bietet, die erforderlich ist, um sowohl statische als auch dynamische Änderungen der SoC-Testanforderungen anzugehen. Das Modell unterstützt auch Pin und Taktpegel-Tests, um sicherzustellen, dass alle Gerätesignale ordnungsgemäß getestet werden. Dazu gehören Hochgeschwindigkeits- und automatische Vektorgenerierung, die eine genaue Prüfung von SoC-Geräten vor ihrer Freigabe ermöglicht. Darüber hinaus bietet das Gerät Platz für bis zu vier digitale Tester für erhöhte Genauigkeit während des Testprozesses. Zusätzlich zu seiner Hochfrequenz- und Hochleistungsleistung, TERADYNE J750 unterstützt auch fortgeschrittene Automationsfähigkeiten durch sein eingebautes Hochleistungsdatenverwaltungswerkzeug. Dies ermöglicht erweiterte Datenprotokollierung, Trending und Reporting, damit Tester die Leistung während des Testprozesses überwachen können. Darüber hinaus verfügt das System auch über die Flexibilität, spezielle Testwerkzeuge wie Fehlerabdeckungsanalyse, Leistungsintegritätsanalyse und Signalintegritätsanalyse zu unterstützen. TERADYNE J 750 ist eine leistungsstarke, leistungsstarke Testeinheit, die Herstellern helfen soll, den Produktertrag zu steigern und die Testzeit zu reduzieren und gleichzeitig die Auswirkungen der Siliziumtechnologie zu minimieren. Es hat sich bewährt, Ertragsrisiken zu reduzieren und zuverlässige Ergebnisse während des gesamten Produktlebenszyklus von Machine-on-Chip zu liefern. Damit eignet es sich perfekt für die heutigen Hochleistungs-SoC-Testanforderungen.
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