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TERADYNE MicroFlex ist eine Endprüfanlage für eine Vielzahl von elektronischen Geräten, vom Speicher über Mikrocontroller bis hin zu Hochgeschwindigkeits-ASICs, sowie digitale, analoge und gemischte Signal-ICs. Es bietet skalierbare Testabdeckung auf einer einzigen Plattform und eignet sich sowohl für die Produktion als auch für den technischen Einsatz. MicroFlex-System kommt mit einer ganzen Reihe von Hardware, Software und Dienstleistungen, um den Testprozess zu erleichtern. Eine leistungsstarke Bedieneinheit ermöglicht eine effiziente Testentwicklung und -verwaltung durch Advanced Test View (ATV), eine grafische Benutzeroberfläche, die die Integration und Automatisierung von Testprogrammen vereinfacht. Die Bibliothek der verfügbaren Testsoftware umfasst Testprogrammgeneratoren, Diagnosetools und Simulationssoftware, die nahtlos mit der Hardware der Maschine arbeiten. Für den Testeinschluss von ICs bietet das Werkzeug eine Reihe von anwendungsspezifischen Hochleistungsprobefähigkeiten. Es kann für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden, einschließlich parametrischer Tests, Geräte-ID, Board-Programmierung und Asset-Tests. Diese Tests werden durch den Einsatz von Hochgeschwindigkeits-digitalen I/O (DIO) - oder digitalen Vektorprozessor (DVP) -Technologien ermöglicht, wobei letztere in der Lage sind, Kanalprüfungen mit Geschwindigkeiten von bis zu 4 GHz durchzuführen. Das Modell bietet eine Reihe von Leistungs- und Temperaturoptionen für traditionelle und fortschrittliche Halbleiterprozesse. Leistungssteuerungsalgorithmen wie VCLK, IDDQ und VDDQ oder LDO-Steuerung werden ebenfalls unterstützt, um die Genauigkeit zu gewährleisten und die Wahrscheinlichkeit des Funktionierens des Geräts zu verbessern. Neben den ATP-Funktionen (Automated Test & Programming) verfügt TERADYNE MicroFlex auch über eine robuste Reihe von In-Circuit-Test (ICT) -Werkzeugen zur zerstörungsfreien Prüfung von ICs und Leiterplatten. Zu diesen Tools gehören FeedFlex, eine eingebaute Mikro-Unterbrechungstechnologie, die dauerhafte Schäden an Geräten während der Testausführung verhindert, DFX (Design for testability) und FPGAdb (Flash-Programmierung und Debugging) Tools für Rapid Prototyping. Mit seiner robusten, flexiblen und integrierten Architektur bietet MicroFlex Final Test System eine ideale Lösung für jede Testanforderung, die eine erhöhte Testabdeckung, eine verkürzte Time-to-Market und eine verbesserte Produktqualität ermöglicht.
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