Gebraucht TERADYNE TestStation TSLH #9159887 zu verkaufen

TERADYNE TestStation TSLH Test Equipment ist eine fortschrittliche Testlösung für hochvolumige automatisierte Testanforderungen. Das System nutzt die vielseitige Laminierungstechnologie SMD (Surface Mount Device) und unterstützt sowohl serienarme als auch serienreiche Umgebungen. TestStation TSLH verfügt über eine modulare Konfiguration, die für eine erhöhte Testfähigkeit oder Anpassung an spezifische Produktionsanforderungen erweiterbar ist. Das Gerät basiert auf einer leistungsstarken Architektur, die TERADYNE Controller-Software „Test and Retrieve“ verwendet. Diese leistungsstarke Architektur wurde entwickelt, um den Durchsatz zu maximieren und Testverzögerungen zu reduzieren. Mit Test and Retrieve können identische Testschritte an mehreren Geräten auf demselben Gerät durchgeführt werden, was schnellere und genauere Testergebnisse ermöglicht. TERADYNE TestStation TSLH Testkopf ist in der Lage, eine Reihe von Testfunktionen zu unterstützen, einschließlich, Inspektion, Programmbetrieb, Stiftprüfung, Parametereinstellung und Vorrichtungen und Vorrichtungen. Sein hochfähiger Testkopf verwendet eine patentierte Kontaktmaschine „Laminated Ball Grid“, um eine hohe Kontaktintegrität zwischen dem Gerät und der Tester-Leitung zu gewährleisten. Dies gewährleistet die Erfassung genauer Testdaten und die ordnungsgemäße Geräteleistung. Das Tool ist für die einfache Integration in ein bestehendes In-Circuit-Testobjekt konzipiert. Die TestStation TSLH verfügt über eine einzige Verbindung, die über den Tester-Rechner mit dem In-Circuit-Testmodell verbunden ist und eine einzige Bedienerschnittstelle für beide Systeme ermöglicht. TERADYNE TestStation TSLH kann Geräte von kleinsten SMD-Paketen bis hin zu hochpin-count JEDEC-Paketen verarbeiten. Es unterstützt auch Vorrichtungen, die verschiedene Arten von Lötmitteln einschließlich bleifreiem Lot erfordern. TSLH-Geräte von TestStation sind eine zuverlässige, genaue und durchsatzstarke Lösung für automatisierte Testanforderungen mit hohem Volumen. Es bietet die Möglichkeit, komplexe Testszenarien mit erhöhter Hardwareleistung, maximalem Durchsatz und Flexibilität zu unterstützen.