Gebraucht TERADYNE UltraFlex HD #9211335 zu verkaufen

TERADYNE UltraFlex HD
ID: 9211335
Weinlese: 2013
Testers 2013 vintage.
TERADYNE UltraFlex HD von TERADYNE ist ein fortschrittliches Endprüfgerät, das verwendet wird, um Komponenten in komplexen System on Chips (SoCs) schnell und genau zu testen. Diese umfassende 3-in-1-Plattform bietet Hochdurchsatz, Präzisionstests und Hochdichte-Testabdeckung. Es bietet bis zu 16 ATPG-Standorte (Automatic Test Pattern Generation) für ultraschnelle gleichzeitige Tests mehrerer SoCs. Schnittstellengeschwindigkeiten bis zu 5 Gigahertz (GHz) ermöglichen TERADYNE ULTRAFLEX-HD eine schnelle Validierung aller kritischen SoC-Funktionen, einschließlich Bussen, Analog-Digital-Wandlern (ADC) und Digital-Analog-Wandlern (DAC). Dieses Gerät ist mit vier unabhängigen Kanälen ausgestattet, um Komponenten schnell in einem einzigen Setup zu testen und die Testkosten zu reduzieren. Jeder Kanal kann maximal 150 Watt Leistung liefern und Chips mit Spannungen bis zu 25V testen. Zu den integrierten ULTRA FLEX HD-Funktionen gehört die eingebettete Tester-per-Pin-Technologie, die eine automatisierte Entwicklung und Analyse von Testprogrammen ermöglicht. Die schnellen und genauen ATPG-Funktionen dieser Maschine ermöglichen die Verwendung weniger Vektoren mit größerer Abdeckung. Es enthält auch erweiterte Signalanalysen für eine verbesserte Fehlerabdeckung und genauere Messberechnungen. Das robuste Thermomanagement-Tool von ULTRAFLEX-HD ermöglicht schnellere Temperaturabwärtsraten, was bedeutet, dass es höhere Verlustleistungen und Teile mit höherer Dichte verarbeiten kann. Mit bis zu 300 Pins ermöglichen seine mehreren parallelen Scan-Pfade die gleichzeitige Ausführung komplexer Tests. Schließlich entfällt durch die integrierte Mehrspannungsschaltfunktion die Notwendigkeit mehrerer Testsysteme für unterschiedliche Spannungsniveaus. TERADYNE ULTRA FLEX HD bietet eine große Auswahl an Komponenten und ist vielseitig einsetzbar. Seine effizienten und kostengünstigen Testfunktionen sowie seine hochdichten und Hochgeschwindigkeitstests machen es zur perfekten Lösung für moderne SoC-Designs.
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