Gebraucht TERADYNE Z 1800 Series #12715 zu verkaufen

TERADYNE Z 1800 Series ist eine endgültige Testausrüstung, die für heutige Serienumgebungen entwickelt wurde. Es ermöglicht eine effiziente Testausführung, eine schnelle Time-to-Market und einen hohen Durchsatz durch die Kombination ausgeklügelter Testalgorithmen mit einer kundenkonfigurierbaren Architektur. Die Systemarchitektur besteht aus einer Kombination von Hardware- und Softwarekomponenten, die modular aufgebaut und für die Integration individueller Anwendungen rekonfigurierbar sind. Der Z 1800 basiert auf einem Embedded Host Computer, der die Ausführung und Steuerung aller Hardware- und Softwarekomponenten des Geräts erleichtert. Diese Hardware umfasst Master Test Control (MTC) -Platine, Test Interface Module (TIMs) und Erweiterungsschächte. Master Test Control (MTC) Board ist die Hauptsteuerungsmaschine des Werkzeugs. Es enthält ein FPGA oder ein CPLD für die Asset-Steuerung, eine MCU für Timing und Synchronisation, RAM und ROM für die Modelldatenspeicherung und einen Host Serial Port Connector. Testschnittstellenmodule (TIMs) sind die wichtigsten Testschnittstellenelemente der Geräte, die die externen Testmodule mit Strom und Steuerung versorgen. Mit den Erweiterungsschächten können kundenspezifische Erweiterungskarten (3.3V, 5V und 12V) zum Testen von Hochleistungs- oder Hochgeschwindigkeitsgeräten hinzugefügt werden. Die Softwarekomponente des Z 1800 Systems besteht aus Test Station Software (TSS) und Test Editor Software (TES). Test Station Software (TSS) bietet die Programmier- und Einrichtungsfunktionen für die gesamte Einheit. Es ermöglicht dem Kunden, benutzerdefinierte Testmuster zu definieren, sie in das Gerät zu laden und auf globale Testparameter zuzugreifen. Test Editor Software (TES) bietet eine GUI-Umgebung zum Programmieren, Bearbeiten und Debuggen der Testmuster. Darüber hinaus verfügt das TES über eine breite Bibliothek mit Testfunktionen und Kompatibilität mit externen Geräten. Mit der Maschine Z 1800 können verschiedene integrierte Halbleiterschaltungen (ICs) wie Logikgeräte, Speicher, feldprogrammierbare Gate-Arrays (FPGAs), anwendungsspezifische integrierte Schaltungen (ASICs) und digitale Signalprozessoren (DSPs) getestet werden. Das Tool unterstützt auch eine Vielzahl von Testplattformen und führt gleichzeitig Tests an ihnen im Hochgeschwindigkeits-Parallelmodus durch. Darüber hinaus ist die Anlage in der Lage, eine umfassende Palette von Tests durchzuführen, einschließlich Boundary Scan, In-Model Programming (ISP), In-Circuit Tests (ICT), Functional Tests (FCT) und Design Verification Testing (DVT). Das Gerät ist auf Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit ausgelegt, mit einer einfachen und intuitiven Benutzeroberfläche, die eine einfachere Ausführung und Verwaltung von Tests ermöglicht. Das Z 1800 System unterstützt auch mehrere Kommunikationsprotokolle, einschließlich SBus, Ethernet, USB und RS-232. Insgesamt ist die Z 1800 Serie eine ideale Lösung für heutige Serienumgebungen und bietet eine effiziente und zuverlässige Möglichkeit, Testanforderungen schnell, wirtschaftlich und präzise zu erfüllen.