Gebraucht YOKOGAWA AL 6095 #9181116 zu verkaufen

YOKOGAWA AL 6095 ist ein hochentwickeltes Endprüfgerät für Halbleiterbauelemente. Es ist in der Lage, automatische Tests auf Halbleiterscheiben in hohen Volumina durchzuführen, einschließlich Tests von bis zu 20 verschiedenen Arten von Halbleiterbauelementen. Das System bietet eine vollautomatische, benutzerfreundliche Testumgebung, die die Testzeit erheblich reduziert und eine hohe Genauigkeit in Produktionslinien erreicht. Die AL 6095 ist als vollautomatische Testeinheit in bestehende und zukünftige Produktionslinien integriert. Es bietet eine Reihe von verschiedenen Modulen für Gerätetests, einschließlich einer Vorrichtung zur Gerätemontage, Stempelscanner zur Erkennung und Messung von Defekten und Software zur Steuerung der Gerätetests. Die Maschine verfügt zudem über eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche, die eine effiziente Einrichtung und Bedienung mit minimalen Trainingsanforderungen ermöglicht. YOKOGAWA AL 6095 verwendet ein einzigartiges, hochpräzises Sehwerkzeug, um jedes Gerät auf einem Wafer zu testen. Das Vision Asset erkennt und misst die feineren Details jedes Geräts, einschließlich Lötstöße, Öffnungsgrößen und mikroskopische Formen. Dadurch kann das Modell zwischen echten und falschen Fehlern unterscheiden und die Genauigkeit und Zuverlässigkeit der Ergebnisse gewährleisten. AL 6095 bietet auch eine breite Palette von analytischen Funktionen. Seine integrierten Algorithmen ermöglichen die Diagnose der Geräteleistung und der Erträge und ermöglichen die Ursachenanalyse von Gerätedefekten. Darüber hinaus bietet das Gerät ein umfassendes Datenmanagement, mit dem Benutzer Testergebnisse speichern, analysieren und exportieren können. YOKOGAWA AL 6095 ist für den Einsatz in Reinräumen und Nicht-Reinräumen konzipiert und eignet sich ideal für kleine bis große Produktionslinien. Seine fortschrittlichen Funktionen, einschließlich der robusten Vision-System, High-Speed-Test-Ausführung, und benutzerfreundliche Schnittstelle machen es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Halbleiter-Geräte-Tests.