Gebraucht YOKOGAWA AL 9740 #9280248 zu verkaufen

YOKOGAWA AL 9740 Final Test Equipment ist ein automatisiertes Testsystem zur Produktionsprüfung von elektronischen Systemen. Das Gerät wird hauptsächlich für Halbleiter- und diskrete Gerätetests verwendet und ist für hochpräzise, verzerrungsarme Prüf- und Messdienste ausgelegt. Es eignet sich zum Testen und Verifizieren von ICs, Transistoren, Dioden und anderen elektronischen Bauelementen. Die Maschine besteht aus Großrechner, PC und einer breiten Palette von Peripheriezubehör, darunter verschiedene Tester und Sonden. Der Mainframe bietet schnelle, effiziente Test- und Analysefunktionen, die eine genaue und zuverlässige Prüfung elektronischer Komponenten ermöglichen. Es ist mit hochgenauen programmierbaren digitalen Mehrmetern, Oszilloskop und beliebigen Wellenformgenerator ausgestattet, die Präzisionsmessfunktionen bieten. AL 9740 enthält umfassende Werkzeugsoftware für manuelle und automatisierte Testoperationen. programmierbare Schaltermatrizen und numerische Tastaturen ermöglichen eine einfache Bedienung. Das Asset verfügt außerdem über einen integrierten Funktionsgenerator zur Erzeugung gewünschter Wellenformen sowie einen Datenlogger zum Speichern, Analysieren und Drucken von Testdaten. Darüber hinaus ist das Modell auf die Kompatibilität mit anderer CAD-Software (Computer Aided Design) ausgelegt, mit der Konstruktionsänderungen vorgenommen und maßgeschneiderte Testprogramme erstellt werden können. Das Gerät kann auch eine Remote-Datenverarbeitung über seine integrierte Internetverbindung durchführen, die eine Remote-Datenübertragung und -analyse ermöglicht. YOKOGAWA AL 9740 ist ein vielseitiges, zuverlässiges und kostengünstiges Testsystem, das den Anforderungen von Halbleiter- und diskreten Geräteherstellern für zuverlässige Testdienstleistungen gerecht wird. Es ist eine einfach zu bedienende, genaue und umfassende Lösung für automatisierte Tests und Messungen. Es ist eine vielseitige Einheit, die sowohl hochpräzise als auch verzerrungsarme Tests bereitstellen kann, was es zu einer idealen Lösung für die Prüfung und Abschirmung von Halbleiterbauelementen und Bauteilkonstruktionen macht.