Gebraucht ADVANTEST M 6300 #9200142 zu verkaufen

Der ADVANTEST M 6300 Handler ist ein hochleistungsfähiger, programmierbarer und automatisierter Bauteilhandler zum Testen diskreter Halbleiter. Dieser flexible und zuverlässige Handler eignet sich ideal für Hochvolumentests von Speichergeräten, Logikgeräten, Bildsensoren und anderen Miniaturkomponenten. ADVANTEST M6300 Handler verfügt über eine bewegliche, belüftete Basis für einfachen Transport und bietet die neueste Technologie in der kompakten Verpackungstechnik-Prüfung (CPT). Es ist in der Lage, gleichzeitige Verarbeitung bis zu 96 UUTs, mit Durchsatzraten von bis zu 160 UPH. Es ist in der Lage, eine breite Palette von Temperaturen zu testen und bietet mehrere Optionen für die Routenprogrammierung. Für genaue und präzise Komponententests bietet M 6300 selbstgesteuerte Bewegungsfunktionen und fortschrittliche Drehmomentmessungstechnologie, die sicherstellen, dass Komponenten empfindlich und sicher gehandhabt werden. Der Handler ist mit Hochgeschwindigkeits-Vision-Systemen, Inspektionskameras und leistungsstarken bildanalytischen Algorithmen ausgestattet. Es bietet auch die automatische Erkennung mehrerer Pakete wie SO, TSOP, LQFP, TSOP und FBGA. M6300 Handler bietet auch eine erweiterte Prozesssteuerung beim Testen sensibler Komponenten wie MEMS, Bildsensoren und Mikrofonarrays. Die Echtzeitüberwachung und Nachverfolgung von Prozessparametern wie Temperatur, Druck und Strom während der Testdurchführung erspart separate Präzisionsmesssysteme. Der Handler ist mit einer Vielzahl von Vorrichtungen für die spezialisierte Komponentenprüfung ausgestattet und kann bis zu 30 Pick-and-Place-Events im gleichen Testzyklus durchführen. ADVANTEST M 6300 Handler ist auch in der Lage, eine Vielzahl von Testverfahren, einschließlich Drop-Testing, Input/Output-Tests, sowie elektrische Eigenschaften Prüfung. Es ist mit den meisten führenden Testlösungen kompatibel und somit eine ideale Wahl für Produktionsanlagen und Forschungslabore. Der Handler wurde entwickelt, um menschliche Eingriffe und Datenerfassungsfehler zu reduzieren und entspricht den IEC- und Semiconductor-Industriestandards, um die Genauigkeit zu gewährleisten.