Gebraucht ADVANTEST M 6541AD #9172436 zu verkaufen

ADVANTEST M 6541AD
Hersteller
ADVANTEST
Modell
M 6541AD
ID: 9172436
Pick and place memory handlers.
ADVANTEST M 6541AD Handler ist eine komplette, integrierte Handlerausrüstung zum Testen von Wafer-Level-IC-Geräten in einer Produktionsumgebung. Es wurde entwickelt, um vollautomatische Hochgeschwindigkeitstests anzubieten, was zu einer erhöhten Produktivität und Kosteneinsparungen führt. ADVANTEST M6541AD verfügt über vier fortschrittliche Funktionen, um die Genauigkeit und Effizienz der Gerätetests zu verbessern. Erstens, seine fortschrittliche High-Speed-Dotierstoff segmentierte Sonde System hilft, Genauigkeit zu gewährleisten und reduziert Testzeit. M6541 AD verwendet zwei Dotierstoff-segmentierte Sonden, die individuell einstellbar sind, um die Genauigkeit und Geschwindigkeit der Prüfung zu maximieren. Die Sonden berühren die zu prüfende Vorrichtung genau, und die Sondeneinheit ist auf die jeweilige Gerätesteigung und -breite einstellbar. Zweitens wird seine integrierte Vision-Maschine verwendet, um das zu testende Gerät für noch mehr Genauigkeit zu identifizieren. Dieses Tool ermöglicht es dem Handler, jedes Gerät automatisch einzeln zu testen, um sicherzustellen, dass mehrere Tests auf die effizienteste Weise durchgeführt werden. Drittens ist M 6541AD mit zwei unabhängigen Hochleistungs-E-Blocks ausgestattet, was den Bedarf an zusätzlicher externer Kommunikation reduziert. Die E-Blocks bieten Flexibilität und ermöglichen es dem Handler, mehrere Tests mit verschiedenen Algorithmen parallel durchzuführen. Schließlich ist M6541AD mit einem fortschrittlichen Rezeptgenerator ausgestattet, der die Möglichkeit bietet, Testrezepte für mehrere Gerätetypen zu erstellen und zu speichern. Durch die Verwendung des Rezeptgenerators ist der Handler in der Lage, Tests schnell und genau abzuschließen, ohne Zeit zu verschwenden, neue Rezepte zu erstellen. Zusammenfassend lässt sich sagen, dass ADVANTEST M 6541 AD Handler modernste Technologie mit intuitiver Programmierung kombiniert, um eine leistungsfähige Testkapazität zu schaffen, die die Genauigkeit und Effizienz der IC-Gerätetests auf Produktionsebene deutlich verbessern kann. Seine erweiterten Funktionen ermöglichen schnelle Tests, höhere Genauigkeit und eine verbesserte Testerfahrung, was zu mehr Produktivität und Kosteneinsparungen führt.
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