Gebraucht ADVANTEST M 6761 #9217650 zu verkaufen

Die VORTEILHAFTE M 6761 ist ein modularer, hochfrequenter, elektrischer Prüfhandler, der insbesondere für die Halbleitergeräteprüfung ausgelegt ist. Es bietet automatisierte, aktuelle Funktionen, die das Testen von Paketen und blanken Werkzeugen auf Wafer-Level-Zuverlässigkeit und Gerätecharakterisierung in Halbleiterherstellungsumgebungen ermöglichen. VORTEILHAFTER M6761 Handler ist mit einer Vielzahl von Merkmalen ausgestattet, die für die Prüfung von Halbleiterbauelementen wesentlich sind. Es hat eine kompakte Bauweise, die mehr Flexibilität und Komfort in der Testumgebung bietet. Der Handler ermöglicht den einfachen Transport von Proben für den Transport, ohne die Leistung des Geräts zu beeinträchtigen. Das automatisierte Wafer Handling System ermöglicht auch eine effiziente Prüfung und Beladung von Wafern. M 6761 Handler ist mit einer Reihe von Hochfrequenz-Tests und Messfunktionen entwickelt. Es ist in der Lage, eine integrierte volle Temperaturbereich Testfähigkeit (bis zu 200 ⁰C). Es hat auch integrierte DC parametrische und schnelle Umschaltung (bis zu 200kHz). Es ist auch mit einem integrierten 60V Impulsgenerator für dynamische Tests ausgestattet. Zusätzlich ist der Handler mit einem Flash-Rückstrom zur Durchschlagsprüfung, Pulsbreite/Phasenmessung zur Gerätekennzeichnung und Multisignalmessung zur Bauteilanalyse ausgestattet. M6761 Handler ist so konzipiert, dass er unglaublich langlebig und zuverlässig ist. Der integrierte modulare Aufbau ermöglicht effiziente Tests mit minimalem Wartungsaufwand. Der Handler ist auch mit unabhängigen Gerätetestnetzteilen (IV und Vf) und einer vom Benutzer wählbaren Hochleistungsleistung von 48V und 15A ausgestattet. Darüber hinaus ist der Handler ADVANTEST M 6761 auch mit Hochvolumenventilatoren für eine effektive Kühlung ausgestattet. Insgesamt ist der ADVANTEST M6761 Handler ein zuverlässiger, Hochgeschwindigkeits-Handler, der für eine effiziente Halbleitergeräteprüfung ausgelegt ist. Sein automatisiertes Wafer-Handling-System ermöglicht einen einfachen Transport von Proben ohne Leistungseinbußen. Darüber hinaus ist die breite Palette an Testfunktionen und leistungsstarken Funktionen eine ideale Wahl für die Prüfung von Halbleiterbauelementen.