Gebraucht ADVANTEST M 6761AD #9081729 zu verkaufen

Die VORTEILHAFTE M 6761AD ist eine Handhabungseinrichtung zum Testen unterschiedlichster Halbleiterbauelemente, zur sicheren Montage des Bauelements auf dem Prüfkopf und zur schnellen, effizienten und kontrollierten Handhabung des Bauelements. Es wurde entwickelt, um gleichzeitig bis zu 25 verschiedene Arten von Geräten zu testen, wodurch der Zeitaufwand für die Durchführung von Tests minimiert wird, ohne die Genauigkeit zu beeinträchtigen. Die maximale Geschwindigkeitsfähigkeit des Handlers ist 6.7kHz und bietet einen konsistenten Datenfluss und eine schnelle und genaue Positionierung mit einer Reaktionszeit von 0,8 ms und 0,14 mm Wiederholgenauigkeit. Der Handler verfügt außerdem über eine 50-Mikrometer-Mikrostufe, die eine wiederholbare Wiederholbarkeit von bis zu 1 x 10-6 bietet. Der Handler ist extrem langlebig und hat eine langfristige Lebensdauer dank seiner starren Konstruktion, Edelstahlchassis und dichtem Design. Es verfügt über einen Global Fresh Air Cleaner, der Verunreinigungen von Testspänen durch Partikel und statische Elektrizität verhindert, wodurch potenziell gefährliche Reinigungsmittel entfallen. Der Handler verfügt außerdem über einen schwimmenden Waferarm, der auch für empfindlichste Geräte eine enge Pin-to-die-Steuerung gewährleistet. Es kommt auch mit einem zweispurigen Wafermagazin, das überlappende und inkonsistente Handhabung von Wafern verhindert. Der Handler verfügt über eine grafische Benutzeroberfläche mit einer alphanumerischen Tastatur und einer Vielzahl von Linux-basierten Befehlssteuerungen für eine einfache Bedienung. Es kann programmiert werden, um alle Arten von Halbleitertests durchzuführen, von Logikpegel und Leistungspegel-Tests bis hin zu spezifischen Funktionstests. Darüber hinaus unterstützt der Handler den Einsatz hochflexibler programmierbarer Testboards. Zusammenfassend ist M 6761AD ein leistungsstarker, hochzuverlässiger Handler, der kontinuierliche Chargen von 25 Halbleiterbauelementen sicher handhaben kann. Es bietet schnelle Durchsätze, wiederholbare Wiederholbarkeit und verschmutzungsfreie Tests und ist damit eine ideale Wahl für die automatisierte Prüfung von Halbleiterbauelementen.