Gebraucht KLA / TENCOR SP1 300DFF1P #9250789 zu verkaufen

KLA/TENCOR SP1 300DFF1P ist ein automatisierter Messtechnik-Handler, der für die Inspektion auf Waferebene und die Messung der Oberflächengüte optimiert ist und die Messung und Analyse unterschiedlicher Oberflächen und Fehlertypen ermöglicht. Der Handler bietet dank seiner innovativen DFF1 Multifunktionsausrüstung eine verbesserte Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Durchsatz. Mit einer integrierten Lichtfeld-Planheitsmesszelle sorgt dieses System für wiederholbare, momentane Einzelpunktmessungen von für viele IC-Wafer typischen Langstreckenflächenvariationen. KLA SP1 300DFF1P Handler ist in der Lage, mit den meisten Wafergrößen und Ebenheitsmessanforderungen zu arbeiten und eignet sich gut für moderne Halbleiterleitungsprozesse. Der Handler bietet eine präzise und wiederholbare Positionierung für jede messtechnische Aufgabe mit einem kleinen und präzisen Messfeld zur Analyse von Echtzeitdaten. Das Gerät wurde mit fortschrittlichen computerbasierten Sichtfunktionen entwickelt, die berührungslose, qualitativ hochwertige visuelle Inspektionen sowie eine bis zu 30fache Beschleunigung der Oberflächenanalyse und Fehlererkennungsprozesse ermöglichen. Darüber hinaus verfügt der Controller über eingebettete Algorithmen, um eine verbesserte Datenanalyse, schnelle Wafer-Suchen und die Möglichkeit zu ermöglichen, einzelne Werkzeugbilder nachzuvollziehen. TENCOR SP1 300DFF1P Handler ist in der Lage, eine breite Palette von Proben und IC-Pakete unterzubringen. Der Handler kann eine Vielzahl von Testmustertypen unterstützen, einschließlich Wafer, Flachbildschirme, PROM-Geräte, PCBs und andere Proben, die üblicherweise für die Messtechnik verwendet werden. Um Präzision und Genauigkeit zu gewährleisten, enthält das 300DFF1P ein hochgenaues nichtlineares 72-Punkt-Nomogramm, das an eine Reihe verschiedener IC-Typen und -Prozesse angepasst werden kann. Darüber hinaus hat die KLA mehrere erweiterte Funktionen in ihren SP1 300DFF1P Handler integriert, um die Gesamtleistung zu verbessern. Dazu gehören eine erweiterte Fehlererkennungsbibliothek, automatisierte Charakterisierungsfunktionen über Partikelanalyse und Mikrokonturierung, Luftkissenträger und eine automatisierte Planheitsberechnungsmaschine für Wafer. Darüber hinaus integriert das 300DFF1P eine leistungsstarke Erkennungs- und Software-Suite, die eine zusätzliche Charakterisierung und Analyse von Optical Coherence Tomography (OCT) und bildbasierten Oberflächenmerkmalen ermöglicht. KLA/TENCOR SP1 300DFF1P Handler ist ein effizientes und stark reproduzierbares Metrologiewerkzeug, das speziell zur Messung der Oberflächenqualität unterschiedlichster Materialien und Komponenten entwickelt wurde. Darüber hinaus erhöhen seine erweiterten Funktionen und Funktionen nicht nur die Produktivität, sondern ermöglichen auch eine schnelle und genaue Datenverarbeitung. Das Asset ist eine ideale Lösung für diejenigen, die mehr Genauigkeit und Zuverlässigkeit in ihren Halbleiterprozessen suchen.