Gebraucht MULTITEST MT 8501 #9208482 zu verkaufen

Hersteller
MULTITEST
Modell
MT 8501
ID: 9208482
Device handler change kits Includes: (2) 20L PLCC CK 8501 28L PLCC CK 8501 44L PLCC CK 8501 (2) 68L PLCC CK 8501 (2) 84L PLCC CK 8501.
MULTITEST MT 8501 handler ist ein Hochgeschwindigkeitstester, der speziell entwickelt wurde, um Halbleiterbauelemente während der Produktion zu testen. Es ist in der Lage, eine breite Palette von IC-Paketen wie SOP, TSOP, SOJ, QFP, TQFP und QFN zu handhaben und kann für die elektrische Prüfung von integrierten Schaltungen sowohl auf Wafer- als auch auf Geräteebene verwendet werden. Das Gerät verfügt über einen Combi-Prober mit automatisierungsbereitem Design, der bis zu 120 Sonden unterstützt. Die hohe Genauigkeit, Wiederholbarkeit und der Durchsatz des Probers gewährleisten die erforderliche Leistung während der Prüfung. Besonderheiten wie die E-Nase-Techniken machen das System für eine breite Palette von Gerätegrößen geeignet. MULTITEST 8501 Handler verwendet fortschrittliche Technologie für hochgenaue Messung. Es ist mit einer Software-Suite ausgestattet, die ein Engineering-Journal, einen Taskplaner, einen Testplaner und einen Leistungsmonitor enthält. Das Engineering Journal kann alle Testparameter bei jedem Testlauf aufzeichnen, was eine einfache Rückverfolgbarkeit und Fehlerbehebung ermöglicht. Der Taskplaner kann verwendet werden, um Tests für mehrere Geräte oder mehrere Wafer zu planen. MT 8501 Handler ist auch mit einem High-Speed 32-Bit-DIP-Prozessor ausgestattet, der einen Durchsatz von bis zu 350 Geräten pro Stunde gewährleistet. Der Controller verfügt außerdem über einen Multiplexerbus, der bis zu acht unabhängige Testvektoren ermöglicht. Das Gerät unterstützt auch zeitlich begrenzte dynamische Tests, um zeitraubende Testroutinen zu beschleunigen. MULTITEST 8501 Handler verfügt auch über eine optionale optische 4-Mode-Sensormaschine, die die Geräteorientierung und -ausrichtung während der Prüfung genau erkennt. Der Handler verfügt auch über einen Ventilator mit variabler Geschwindigkeit für eine Reihe von Gerätegrößen und Spannungsbereichen. Das Werkzeug ist ferner mit einer dynamischen Wafersynchronisation ausgestattet, die den Testzyklus zwischen mehreren Segmenten eines einzigen großen Gerätes genau synchronisiert. Darüber hinaus entspricht die Anlage auch den JEDEC-Standards zur Prüfung von Zuverlässigkeit und Leistung. Insgesamt ist MULTITEST MT 8501 ein hochentwickelter und fähiger Handler zum Testen von Halbleiterbauelementen in Wafer- und Geräteform. Die fortschrittliche Technologie, die schnelle Durchsatzrate und die Einhaltung von Standards machen es zu einer zuverlässigen und robusten Testlösung.
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