Gebraucht FEI DualBeam 620 #293795397 zu verkaufen

FEI DualBeam 620 ist eine anspruchsvolle Ionenfräsausrüstung, die für hochauflösende bildgebende und analytische Funktionen im Bereich der Halbleiterherstellung, Werkstoffwissenschaft und Mikroelektronik entwickelt wurde. Es kombiniert die Funktionalitäten eines Rasterelektronenmikroskops (SEM) und eines fokussierten Ionenstrahlsystems (FIB), um eine außergewöhnliche bildgebende Auflösung und präzise Materialentfernung zu ermöglichen. Am Kern der DualBeam 620 Einheit ist eine Hochleistungsfeldemissionselektronquelle, die einen eingestellten Elektronbalken für die Bildaufbereitung und Analyse der Beispieloberfläche erzeugt. Dieser Elektronenstrahl bietet hochauflösende bildgebende Funktionen, mit denen Forscher die Mikrostruktur von Materialien auf nanoskaliger Ebene visualisieren und analysieren können. Die Maschine verfügt auch über ein hochempfindliches Erkennungswerkzeug, das Bilder mit außergewöhnlicher Klarheit und Kontrast aufnehmen kann und eine detaillierte Charakterisierung der Materialeigenschaften ermöglicht. Zusätzlich zu den SEM-Fähigkeiten ist FEI DualBeam 620 Asset mit einem hochenergetischen fokussierten Ionenstrahl ausgestattet, der genau darauf ausgerichtet werden kann, Material durch ein Verfahren, das als Ionenfräsen bekannt ist, von der Probenoberfläche zu entfernen. Der Ionenstrahl besteht typischerweise aus Galliumionen, die fein fokussiert werden können, um Material im Nanometermaßstab zu entfernen. Diese Fähigkeit, Material selektiv aus einer Probe zu entfernen, ermöglicht es Forschern, Proben für die Analyse vorzubereiten, eine Querschnittsbildgebung durchzuführen und Nanostrukturen mit hoher Präzision herzustellen. Eines der Hauptmerkmale des DualBeam 620-Modells ist die robuste Automatisierung, die den Workflow optimiert und eine effiziente Probenvorbereitung und -analyse ermöglicht. Das Gerät ist mit fortschrittlicher Software ausgestattet, mit der Benutzer komplexe Fräsmuster definieren, die Probennavigation automatisieren und Bild- und Fräsparameter für maximale Effizienz optimieren können. Diese Automatisierungsfunktion beschleunigt die Probenverarbeitungszeit und verbessert die Gesamtproduktivität des Systems. FEI DualBeam 620 Einheit verfügt auch über eine Reihe von erweiterten analytischen Funktionen, die seine Dienstleistung für eine breite Palette von Anwendungen verbessern. Die Maschine ist mit energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) Detektoren ausgestattet, die die elementare Zusammensetzung der Probe mit hoher Empfindlichkeit und räumlicher Auflösung analysieren können. So können Forscher elementare Kartierungen durchführen, chemische Phasen identifizieren und Materialien auf atomarer Ebene charakterisieren. Darüber hinaus ist das DualBeam 620-Tool mit einer Vielzahl von Probenhaltern und Zubehör kompatibel, sodass Benutzer Proben verschiedener Größen, Formen und Zusammensetzungen analysieren können. Die Anlage kann sowohl leitfähige als auch nicht leitfähige Proben aufnehmen und bietet eine Reihe von Optionen für Probenmanipulation, Beschichtung und Vorbereitung. Diese Vielseitigkeit macht das Modell für eine breite Palette von Forschungsanwendungen in der Materialwissenschaft, Nanotechnologie und Halbleiterherstellung gut geeignet. Zusammenfassend ist FEI DualBeam 620 eine hochmoderne Ionenfräsanlage, die fortschrittliche bildgebende, analytische und materialentfernende Funktionen für Forschung und Entwicklung in verschiedenen Bereichen bietet. Die Kombination aus SEM- und FIB-Funktionalitäten, Automatisierungsmerkmalen und Analysewerkzeugen macht es zu einem leistungsstarken Werkzeug zur Charakterisierung von Materialien, zur Herstellung von Nanostrukturen und zur Durchführung fortschrittlicher Forschung in der Nanowissenschafts- und Halbleiterindustrie.