Gebraucht FEI DualBeam 820 #293821751 zu verkaufen

FEI DualBeam 820 ist eine hochmoderne Ionenfräse, die erweiterte Funktionen für die präzise Bearbeitung von Proben in einer Vielzahl von Anwendungen bietet. Dieses fortschrittliche Instrument integriert eine fokussierte Ionenstrahlsäule (FIB) mit einer SEM-Säule (Rasterelektronenmikroskop), die eine hochauflösende Bildgebung und präzise Materialentfernung im Nanometermaßstab ermöglicht. DualBeam 820 wurde entwickelt, um Forschern, Ingenieuren und Wissenschaftlern ein vielseitiges Werkzeug für eine Vielzahl von Aufgaben zur Verfügung zu stellen, einschließlich Halbleiterbauelementmodifikation, Fehleranalyse, Prototyping und materialwissenschaftlicher Forschung. Herzstück des FEI DualBeam 820 Systems ist seine FIB-Säule, die einen fokussierten Strahl von hochenergetischen Ionen erzeugt, typischerweise Galliumionen, zum Fräsen, Abscheiden und Abbildungsaufgaben. Die FIB-Säule kann extreme Präzision bei der Materialentfernung erzielen, wodurch sie sich ideal zum Schneiden, Bohren und Skulptieren von Proben mit Submikron-Auflösung eignet. Diese Funktion ermöglicht es Benutzern, Material selektiv aus bestimmten Bereichen einer Probe mit punktgenauer Genauigkeit zu entfernen, was eine detaillierte Analyse und Änderung komplexer Strukturen ermöglicht. Die Ergänzung der FIB-Spalte ist die SEM-Spalte, die hochauflösende Bildgebungsfunktionen zur Visualisierung von Probenoberflächen und -strukturen bietet. Die SEM-Säule verwendet Elektronen, um detaillierte Bilder der Probe zu erzeugen und Einblicke in ihre Topographie, Zusammensetzung und Struktur zu bieten. Durch die Kombination der FIB- und SEM-Funktionalitäten ermöglicht DualBeam 820 Benutzern die Durchführung von In-situ-Bildgebung und -Verarbeitung, die eine Echtzeitüberwachung und -steuerung der Fräs- und Bildgebungsprozesse ermöglicht. Eine der Hauptstärken des FEI DualBeam 820 ist seine Vielseitigkeit und Flexibilität im Probenhandling. Das Gerät ist mit einer ausgeklügelten Bühnenmaschine ausgestattet, die eine präzise Manipulation und Positionierung von Proben bei Fräs- und Bildaufgaben ermöglicht. Diese Funktion ist für die Durchführung komplexer Operationen wie Querschnitte, ortsspezifisches Fräsen und 3D-Rekonstruktion von Probenstrukturen unerlässlich. Darüber hinaus unterstützt DualBeam 820 eine breite Palette von Probengrößen und -typen und eignet sich somit für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen. Die Ionenfräsen Fähigkeiten von FEI DualBeam 820 Werkzeug machen es besonders gut geeignet für Halbleiterbauelement Modifikation und Fehleranalyse. Die hohe Präzision und Steuerung der FIB-Spalte ermöglicht es Benutzern, Material aus integrierten Schaltungen, Transistoren und anderen Halbleiterbauelementen zur Fehlerlokalisierung und -analyse selektiv zu entfernen. Darüber hinaus kann das Asset für Schaltungsbearbeitung, Prototyping und Reverse Engineering-Aufgaben in der Halbleiterindustrie verwendet werden. Im Bereich der Materialwissenschaft ist das Modell DualBeam 820 von unschätzbarem Wert für die Untersuchung von Mikrostrukturen, Schnittstellen und Defekten in einer Vielzahl von Materialien. Forscher können mit den Geräten Proben-Querschnitte für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) aufbereiten, Korngrenzen und Phasenverteilungen aufzeigen und die Auswirkungen der Verarbeitungsbedingungen auf die Materialeigenschaften untersuchen. Die Fähigkeit, den Fräsprozess präzise zu steuern und mit hochauflösenden bildgebenden Funktionen zu kombinieren, macht FEI DualBeam 820 zu einem unverzichtbaren Werkzeug zur Förderung der Materialforschung und -entwicklung. Abschließend stellt das DualBeam 820 Ionenfrässystem ein hochmodernes Instrument zur präzisen Materialbearbeitung und Bildgebung im Nanobereich dar. FEI DualBeam 820 ist mit seinen fortschrittlichen FIB- und SEM-Funktionalitäten, seinen vielseitigen Bearbeitungsfunktionen und seinem breiten Anwendungsspektrum ein leistungsstarkes Werkzeug für Forscher und Ingenieure, die die Grenzen der Nanotechnologie, der Halbleitertechnologie und der Materialwissenschaft erweitern wollen. Seine fortschrittlichen Fähigkeiten und beispiellose Präzision machen es zu einem wertvollen Kapital für eine Vielzahl von Branchen und Forschungsbereichen.