Gebraucht FEI DualBeam 835 #293594852 zu verkaufen

FEI DualBeam 835
Hersteller
FEI
Modell
DualBeam 835
ID: 293594852
Scanning Electron Microscope (SEM) SFEG Electron column Magnum ion column CDEM Detector TLD Detector ETD Detector Platinum GIS Carbon GIS Chiller Oil free turbo pumps Pre-vacuum pump.
FEI DualBeam 835 ist eine fortschrittliche Ionenfräsanlage, die eine einzigartige Palette von Fähigkeiten für die nanoskalige Oberflächenanalyse bietet. Dieses vielseitige Instrument integriert ein FIB-System (fokussierter Ionenstrahl) und eine SEM-Säule (Rasterelektronenmikroskop), die eine präzise Oberflächenmodifizierung, hochauflösende Bildgebung und detaillierte Elementaranalyse ermöglicht. Die FIB-Komponente von DualBeam 835 ist in der Lage, Sputter-Ätzen, Abscheidung und Elektronenstrahl-Lithographie. Diese Fähigkeiten ermöglichen es dem Bediener, Materialien mit Nanometergenauigkeit zu fräsen und zu formen und gleichzeitig einen Einblick in die Materialeigenschaften und Mikrostrukturen im Nanobereich zu geben. Die integrierte SEM-Komponente ermöglicht es dem Bediener, gefräste Oberflächen mit einer seitlichen Auflösung von bis zu 5 nm abzubilden und zusätzliche Charakterisierungen wie chemische und elektrische Messungen durchzuführen. FEI DualBeam 835 verfügt über eine Hochspannungskammer mit einem Probenkammerdruck von 10-6 Torr, eine sichtbare Laserausrichtung zur präzisen Probenpositionierung und eine Dual-Action-Gaseinspritzeinheit zur präzisen Gassteuerung. Die fortschrittliche Quellensteuerungsmaschine ermöglicht eine präzise Einstellung der Strahlenergie zusammen mit dem Ionenstrahldurchmesser und den aktuellen Einstellungen. Diese Funktionen, gepaart mit seinem robusten Softwarepaket, bieten Anwendern eine detaillierte Kontrolle und Flexibilität für eine breite Palette von Ionenfräsanwendungen. DualBeam 835 ist eine ideale Wahl für Forscher, Hersteller und Ingenieure, die fortschrittliche Ionenfräsen und detaillierte Charakterisierung von Materialien auf der Nanoskala benötigen. Mit integrierten FIB- und SEM-Komponenten ist dieses Instrument in der Lage, Anwendern zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse mit einem minimalen Zeitaufwand zu liefern.
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