Gebraucht FEI DualBeam 835 #293606223 zu verkaufen
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ID: 293606223
Scanning Electron Microscope (SEM)
Peripherals / Accessories:
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FEI DualBeam 835 ist eine Hochleistungs-Ionenfräsanlage, die für eine breite Palette von Werkstoffcharakterisierungs- und Nanofabrikationsanwendungen entwickelt wurde. Das System kombiniert Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und fokussierte Ionenstrahltechnologien (FIB), die eine präzise Bildgebung und Nanofabrikation ermöglichen. Das Gerät ist mit einer hochauflösenden Feldemissionspistole FEI Schottky ausgestattet. Die Pistole verspricht optimale Leistung bei hochauflösender Bildgebung und Abblendfleckgröße. Für die Phasenkontrastabbildung ist auch ein niederenergetischer Rückstreudetektor enthalten. Für die Nanofabrikation ist DualBeam 835 mit einer Gallium Focum Ion Beam (FIB) Maschine ausgestattet. Das Werkzeug ist so konzipiert, dass es präzises und genaues Fräsen von Materialien ermöglicht, um nanoskalige Merkmale zu beobachten und die Eigenschaften der Materialcharakterisierung zu erweitern. Das Asset ist mit einer Vielzahl von Ionenarten kompatibel, sodass der Benutzer je nach Material und Anwendung den richtigen Strahltyp auswählen kann. Der Strahlstrom ist von 10 pA bis 300 nA einstellbar. FEI DualBeam 835 bietet erweiterte Probenmanipulation, einschließlich Hochvakuumstufen, zwei 2-Achsen-Probenstufen und zwei Hohlräume, die bis zu zwei Proben aufnehmen, den Probendurchsatz maximieren und die Rüstzeit reduzieren. Die Austauschzeit für SEM und FIB sowie die Probenwechselzeit können durch die automatisierte Kavitätsaustauschfähigkeit minimiert werden. Das Modell verfügt über leistungsstarke Software für Zusammenarbeit, Analyse und Charakterisierung. Die benutzerfreundliche Software bietet eine intuitive grafische Benutzeroberfläche und automatisierte Workflows für mehr Effizienz und Reproduzierbarkeit. Die Software FEI Helios Synthesis™ ermöglicht es Benutzern, automatisierte Fräsfunktionen auszuführen und Daten aus dem FIB-Kanal zu extrahieren. Die Software enthält auch ein Nanoskopie-Modul zur Gewinnung präziser 3D-Bilder von nanoskaligen Strukturen. DualBeam 835 optimiert sowohl die Bildgebung als auch die Nanofabrikation und ist damit ein ideales Werkzeug für eine Vielzahl von Werkstoffcharakterisierungs- und Nanofabrikationsanwendungen. Die Kombination von SEM- und FIB-Technologien, präzise Probenmanipulation, Kompatibilität mit einer Vielzahl von Ionen, fortschrittliche Software und die hohe Leistung der Schottky-Feldemissionskanone machen die Ausrüstung zu einem unschätzbaren Werkzeug für wissenschaftliche Forschung und Experimente.
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