Gebraucht FEI DualBeam 835 #9285511 zu verkaufen

FEI DualBeam 835 ist eine Ionenfräse, die eine hochauflösende bildgebende Lösung für die Forschung an nanoskaligen Materialien bietet. Dieses Zweistrahl-Bildgebungssystem kombiniert einen fokussierten Ionenstrahl und ein Rasterelektronenmikroskop, um Subnanometer-Auflösungsfähigkeiten bereitzustellen. Es ist ideal für eine breite Palette von Anwendungen, wie 3D-Oberfläche atomare Auflösung Oberflächenbildgebung, 3D-Unterfläche Bildgebung, Oberflächenspannungsabbildung, quantitative Elementaranalyse, Ionensputter Tiefe Profilierung, Kristallstrukturanalyse und Transmissionselektronenmikroskopie. DualBeam 835 Einheit besteht aus einer Ionensäule und einem Rasterelektronenmikroskop (SEM oder EDX). Die Ionensäule besteht aus einer Ionenquelle, einer Strahloptik und fokussierenden Elementen. Es wird eine Dual-Beam-Technik eingesetzt, die sowohl hochenergetische Ionenextraktion als auch Elektronenstrahlaktivierung mit niedrigerer Energie kombiniert, um komplizierte Strukturen effektiv zu verarbeiten. Der energiereiche Materialausstoß erleichtert klar definierte Massenstrukturen, bietet genaue 3D-Oberflächentopographie und hochauflösende Bildgebung auf atomarer Skala. Der SEM-Teil der Maschine ermöglicht die Analyse von Materialien vor Ort. Durch die Wechselwirkung zwischen dem Elektronenstrahl und einem zu prüfenden Objekt entstehen Sekundärelektronen, die Einblick in die untersuchten Materialien geben. Diese Elektronen werden vom Werkzeug detektiert und mittels Sekundärelektronendetektion analysiert. FEI DualBeam 835 Asset auch Anmerkungen und Bildprozess Verbesserungen gegenüber dem vorherigen Modell, FEI 831. Das Modell verbessert das Sichtfeld von niedrigen bis zu Subnanometerauflösungen deutlich. Seine Dual-Strahl-Ansatz liefert auch besseren Kontrast und Bildklarheit auf der kompliziertesten Struktur. Diese bildgebende Ausrüstung ist mit verschiedenen Funktionen wie dem Zweistrahl-Profileinstellwerkzeug belastet, das die Genauigkeit und Auflösung erhöht. Darüber hinaus ist der DualBeam 835 über eine grafische Benutzeroberfläche steuerbar, was eine einfachere Systemsteuerung und -bedienung ermöglicht. Insgesamt wurde FEI DualBeam 835 entwickelt, um hochauflösende bildgebende Lösungen für nanoskalige Materialforschung bereitzustellen. Diese leistungsstarke Einheit verfügt über Dual-Beam-Technologie, die eine überlegene Bildgebungserfahrung mit verbesserter Auflösung und Kontrast sowie verbesserte Anmerkungs- und Bildverarbeitungsfunktionen bietet. Mit einer benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche lassen sich die Ionensäule und das Rasterelektronenmikroskop einfach bedienen und steuern.