Gebraucht FEI DualBeam 865 #9076200 zu verkaufen

FEI DualBeam 865 Ionenfräsen Ausrüstung ist eine fortschrittliche, hochpräzise Technik verwendet, um Materialien in einer sehr hohen Auflösung vorzubereiten und zu analysieren. Dieses System kombiniert fortschrittliche fokussierte Ionenstrahlfrästechnologie (FIB) mit bildgebenden Funktionen des Rasterelektronenmikroskops (SEM). DualBeam 865 ist für eine breite Palette von Anwendungen wie Dünnschichtabscheidung, Nanostrukturherstellung und präzises 3D-Probenfräsen konzipiert. Die in FEI DualBeam 865 verwendete FIB-Frästechnik ermöglicht die Entfernung und Abscheidung von Materialien im Nanobereich mit einem Fluss von hochenergetischen Ionen. Die Ionen werden durch eine bewegungsstabilisierte Elektronenoptik fokussiert, um eine extrem feine räumliche Auflösung zu erzielen. Die Ionen haben auch die Fähigkeit, Materialoberflächen und in Strukturen mit extremen Tiefen für präzises 3D-Fräsen einzudringen. Darüber hinaus ist DualBeam 865 in der Lage, Kohlenstoff-Infiltration und 3D-chemische Bildgebung, die es Forschern ermöglicht, eine Probe in drei Dimensionen mit beispielloser Klarheit zu sehen. Die Rasterelektronenmikroskopie (SEM) der FEI DualBeam 865 ermöglicht es Forschern, den Fräsprozess in Echtzeit bei sehr hoher Vergrößerung zu überwachen. Die nanogroßen Merkmale auf der Probenoberfläche können sowohl mit sekundären als auch mit rückgestreuten Elektronen für eine Vielzahl von Anwendungen detektiert und analysiert werden. DualBeam 865 ist auch mit einem Ultraschallwandler ausgestattet, der hochfrequente Vibrationen erzeugt, um bei der Probenreinigung und Entgraten zu helfen. Das vielseitige Design des FEI DualBeam 865 ermöglicht eine präzise Steuerung des Fräs- und Bildgebungsprozesses. Die Maschine verfügt über eine breite Palette von Musteraustauschhaltern, um die Palette der Materialien, die in verschiedenen Forschungsanwendungen verwendet werden, unterzubringen. Darüber hinaus ermöglicht das Werkzeug die bequeme Positionierung von Fräszubehör wie Mikropens und Endmühlen. Die hochpräzise Steuerung der FIB- und SEM-Systeme ermöglicht es DualBeam 865 Forschern, einen unvergleichlichen Einblick in die Mikrostruktur ihrer Proben zu erhalten. FEI DualBeam 865 verbessert die traditionellen Ionenfrässysteme erheblich und bietet eine fortschrittliche, hochpräzise Technik zur Probenvorbereitung und -analyse. Die Kombination aus FIB und SEM macht DualBeam 865 zu einem wertvollen Werkzeug für Materialforscher. Die hochpräzisen Möglichkeiten der Probenfräse und Bildgebung ermöglichen es Forschern, bisher nicht verfügbare Materialien detailliert zu analysieren.