Gebraucht FEI Helios NanoLab 400 #9194575 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

Hersteller
FEI
Modell
Helios NanoLab 400
ID: 9194575
Weinlese: 2007
Focused Ion Beam (FIB) system Detectors: Through-lens (TLD) Dual beam Accessories: OMNIPROBE Manipulator Gas Injection System (GIS) PT & TEOS Enhance etch (IODINE) AutoTEM G2 No STEM detector / STEM Capability 2007 vintage.
FEI Helios NanoLab 400 ist eine multifunktionale Ionenfräse, die hochauflösende, dreidimensionale Oberflächenanalyse und präzise Probenvorbereitung bietet. Das Hochleistungssystem bietet einen variablen Kammerdruck, hohe Abscheideraten und überlegene Ionenfräsen. So erhalten Forscher eine reproduzierbare, präzise Nanometer-Tiefenprofilierung und Oberflächenvorbereitung für eine Vielzahl von Anwendungen. Helios NanoLab 400 Fräseinheit besteht aus einer Ionenquelle, einem Rasterelektronenmikroskop (SEM), einer Hochvakuumkammer und einer aufwendigen Computersteuerungsmaschine. Die Ionenquelle erzeugt einen energiereichen Strahl atomarer Teilchen, die dann auf die Probe gerichtet werden. Im SEM wird der Strahl verwendet, um Form, Größe und chemische Zusammensetzung der Probe zu bestimmen. Die Hochvakuumkammer isoliert die Probe von äußeren Umwelteinflüssen. Das Helios Nanolab wurde entwickelt, um präzise, wiederholbare und kontrollierte Entnahme- und Abscheideprozesse zur Vorbereitung verschiedener Proben zu liefern. Zu den fortschrittlichen Funktionen gehören ein gepulstes Polierwerkzeug, ein Dual-Ionenstrahl-Asset und ein mehrdimensionaler Scan. Die trennbaren Ionenstrahlen helfen dabei, den Bereich und die Tiefe des Ätzens und Sputterns genau zu steuern. Der mehrdimensionale Scan sorgt dafür, dass die Probe von der Topographie bis zur elementaren Zusammensetzung auf verschiedenen Ebenen inspiziert werden kann. Darüber hinaus kann das Modell hochauflösende Bildgebung, chemische Charakterisierung, Tiefenprofilierung und Querschnittsanalyse der Oberflächenstrukturen von Materialien und Geräten durchführen. Das FEI Helios NanoLab 400 ist auch mit einer Reihe fortschrittlicher Ionenätzquellen wie thermischen, chemischen und mechanischen Quellen ausgestattet. Auf diese Weise können Forscher präzise Änderungen an der Probenoberfläche vornehmen, um die Nanofabrikation zu erleichtern und komplexe dreidimensionale Strukturen zu schaffen. Der einstellbare Kammerdruck des Helios NanoLab 400 unterstützt auch verschiedene Prozesse, so dass Forscher optimale Ergebnisse für eine Vielzahl von Proben erzielen können. Darüber hinaus erhöht die zweistufige Vakuumkammer die Probenvorbereitungszeit des Geräts, indem mehrfache Kammerbrüche beseitigt werden, um Proben für weitere Inspektionen vorzubereiten. Dank des zweistufigen Kammerdrucks kann der Probenvorbereitungsprozess mit hoher Genauigkeit und Effizienz durchgeführt werden. Das einzigartige Design des FEI Helios NanoLab 400, die hochpräzise Technik und das ausgeklügelte Computersteuerungssystem bieten ein leistungsstarkes und vielseitiges Werkzeug für Forscher, die nach einer zuverlässigen, einfach zu bedienenden und fortschrittlichen Oberflächenanalyse und Aufbereitungseinheit suchen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor