Gebraucht FEI Helios NanoLab 660 #293817478 zu verkaufen

Hersteller
FEI
Modell
Helios NanoLab 660
ID: 293817478
Dual beam Focused Ion Beam (FIB) system.
Das FEI Helios NanoLab 660 ist eine branchenführende Ionenfräsanlage für die Querschnittsbildgebung und Nanoskalianalyse, die eine präzise Verdünnung von Proben bis auf einen Nanometer-Maßstab ermöglicht. Sein einzigartiges Doppelstrahlsystem kombiniert die Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie (SEM/TEM), um die Probenoberfläche mit Skalenauflösungen von bis zu 0,5 Nanometern effektiv zu ätzen und abzubilden. Die Einheit verwendet einen fokussierten Ionenstrahl oder FIB, um Proben mit einem Strom von hochgeladenen Ionen zu dünnen. Die erzeugten Ionen werden auf das aus der Probe zu entfernende Material gerichtet und steuern dabei die Flugbahn und die Energie des Strahls, um gewünschte Ätztiefen zu erreichen. Dadurch kann Material bis auf wenige Nanometer genau entfernt werden. Das Helios NanoLab 660 verfügt außerdem über eine hochmoderne Fernabbildungsmaschine, die eine nahezu echtzeitnahe Beobachtung der Probe beim Fräsen ermöglicht. Mit seinem eingebauten Vision-Tool kann das FEI Helios NanoLab 660 beim Ätzen Bilder der Probe in verschiedenen Winkeln und Vergrößerungen aufnehmen. Es gibt Benutzern auch die Möglichkeit, während des Prozesses aufgenommene Bilder zu speichern und als zukünftige Referenz zu speichern. Die automatisierte Frässoftware des Asset bietet Anwendern die Möglichkeit, Parameter und Überwachungseinstellungen für eine Vielzahl von Mustermaterialien festzulegen. Dazu gehört die Einstellung einer gewünschten Ätzrate, Tiefe, Gasart und Temperatur. Es verfügt auch über eine Dual-Source-Einrichtung, mit der Benutzer zwischen nieder- und hochenergetischen Ionenstrahlen wechseln können, wodurch der Ätzprozess effizienter, einheitlicher und präziser gesteuert werden kann. Das Modell Helios NanoLab 660 ist für den Einsatz in kommerziellen und akademischen Laboren konzipiert und ermöglicht die Bildgebung und Analyse mit einer Vielzahl von Anwendungen und Proben; Dazu gehören Charakterisierungen wie Fehleranalyse, Fehleruntersuchung, Korrosionsabbildung und 3D-Bildgebung. FEI Helios NanoLab 660 ist mit benutzerfreundlichen, leistungsstarken Funktionen zu einem erschwinglichen Preis konzipiert; dies macht es attraktiv für Labore jeder Größe auf der Suche nach einem zuverlässigen Weg, um nanoskalige Bildgebung und Analyse zu tun. Das Helios NanoLab 660 ist die ideale Wahl für hochauflösende Bildgebungs- und Probenvorbereitungsaufgaben mit modernster Dualstrahlausrüstung und fortschrittlichen Bildgebungsfunktionen.
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