Gebraucht FEI Helios NanoLab 660 #9191763 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9191763
Weinlese: 2014
Dual beam system
With BRUKER EDS and vibration isolation table
P/N: 1037473
TMC Vibration platform
SPICER SC24 Magnetic field cancellation system
Includes:
Workstation with Windows XP
PC
Operating system: Windows 7
(2) Widescreen LCD monitors, 24’’
ELSTAR Electron column with UC technology
TOMAHAWK Ion column with fast ion beam blanker
Eucentric stage: 150 x 150 mm
Beam deceleration mode
In-lens detector TLD with SE and BSED modes
Secondary Electron Detector (SED)
In-column detectors: iCD and Mirror detector
Beam current measurement
CCD IR Camera
Integrated plasma cleaner
Oil-free pumping system
Large table top with support
Description / Part number
iFast developers kit / 1011585
Seismic restraint kit / FP 6940/15
THERMOFLEX Chiller 60 Hz / 9432 909 96461
6-Channel detector amplifier / FP 6843/51
Charge neutralizer / FP 3440/32
Ice detector / FP 2303/09
Retractable dbs detector / FP 6903/20
Retractable stem 3+ detector / 1037464
System covers for helios nanolab / FP 3440/48
FEI Easylift ex nanomanipulator / 1033506
Delineation etch / FP 3400/21
Multichem gas delivery system / 1011754
Nano inst. kit nova nanolab / STRATA / HELIOS / V600 / 9425 061 69625
Cryocleaner ec / FP 2301/27
Cryocleaner ec spare vessel / FP 2301/28
Nav-cam+ / 1018721
Multichem installation tool / 1056070
Carbon deposition precursor for multichem / 1011761
Insulator enhanced etch precursor for multichem / 1011767
Platinum deposition precursor for multichem / 1011759
Selective carbon mill precursor for multichem / 1011763
(8) Wafer holders / 1004714
Joystick / FP 2311/01
Manual user interface / FP 2311/05
Mains matching and isolation transformer sem / FP 6343/02
Quick loader / FP 3610/13
Umb fib/tem specimen kit / FP 3660/05
Umb specimen holder kit / FP 3660/00
Vise specimen holder / FP 3660/10
2014 vintage.
Das FEI Helios NanoLab 660 ist eine branchenführende Ionenfräsanlage für die Querschnittsbildgebung und Nanoskalianalyse, die eine präzise Verdünnung von Proben bis auf einen Nanometer-Maßstab ermöglicht. Sein einzigartiges Doppelstrahlsystem kombiniert die Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie (SEM/TEM), um die Probenoberfläche mit Skalenauflösungen von bis zu 0,5 Nanometern effektiv zu ätzen und abzubilden. Die Einheit verwendet einen fokussierten Ionenstrahl oder FIB, um Proben mit einem Strom von hochgeladenen Ionen zu dünnen. Die erzeugten Ionen werden auf das aus der Probe zu entfernende Material gerichtet und steuern dabei die Flugbahn und die Energie des Strahls, um gewünschte Ätztiefen zu erreichen. Dadurch kann Material bis auf wenige Nanometer genau entfernt werden. Das Helios NanoLab 660 verfügt außerdem über eine hochmoderne Fernabbildungsmaschine, die eine nahezu echtzeitnahe Beobachtung der Probe beim Fräsen ermöglicht. Mit seinem eingebauten Vision-Tool kann das FEI Helios NanoLab 660 beim Ätzen Bilder der Probe in verschiedenen Winkeln und Vergrößerungen aufnehmen. Es gibt Benutzern auch die Möglichkeit, während des Prozesses aufgenommene Bilder zu speichern und als zukünftige Referenz zu speichern. Die automatisierte Frässoftware des Asset bietet Anwendern die Möglichkeit, Parameter und Überwachungseinstellungen für eine Vielzahl von Mustermaterialien festzulegen. Dazu gehört die Einstellung einer gewünschten Ätzrate, Tiefe, Gasart und Temperatur. Es verfügt auch über eine Dual-Source-Einrichtung, mit der Benutzer zwischen nieder- und hochenergetischen Ionenstrahlen wechseln können, wodurch der Ätzprozess effizienter, einheitlicher und präziser gesteuert werden kann. Das Modell Helios NanoLab 660 ist für den Einsatz in kommerziellen und akademischen Laboren konzipiert und ermöglicht die Bildgebung und Analyse mit einer Vielzahl von Anwendungen und Proben; Dazu gehören Charakterisierungen wie Fehleranalyse, Fehleruntersuchung, Korrosionsabbildung und 3D-Bildgebung. FEI Helios NanoLab 660 ist mit benutzerfreundlichen, leistungsstarken Funktionen zu einem erschwinglichen Preis konzipiert; dies macht es attraktiv für Labore jeder Größe auf der Suche nach einem zuverlässigen Weg, um nanoskalige Bildgebung und Analyse zu tun. Das Helios NanoLab 660 ist die ideale Wahl für hochauflösende Bildgebungs- und Probenvorbereitungsaufgaben mit modernster Dualstrahlausrüstung und fortschrittlichen Bildgebungsfunktionen.
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