Gebraucht FEI / MICRION 9500 EX #9383328 zu verkaufen

Hersteller
FEI / MICRION
Modell
9500 EX
ID: 9383328
Focused Ion Beam (FIB) system Stage type: 200 mm x 200 mm Load lock system IBM RISC System 6000 43P 140 Computer MCP Detector I-Gun type: column 5 nm Beam current: 3 pA - 931 pA (50 kV) Depo system: Tungsten Tmcts O2 H2O Cl2 / Br2 XeF2 Vacuum pump: Turbo molecular pump (2) Mechanical pumps (2) Ion getter pumps.
FEI/MICRION 9500 EX ist eine fortschrittliche Ionenmahlanlage zur Vorbereitung großer Proben zur Analyse durch Transmissionselektronenmikroskopie (TEM). Das Ionenfrässystem ist ideal für Benutzer, die unübertroffene Leistung, Präzision, Stabilität und Komfort benötigen. FEI 9500 EX kann große Proben mit einem Durchmesser von bis zu 6 "aufnehmen. Seine große Stichprobengröße ermöglicht das Fräsen größerer Interessengebiete (ROI) in einem Schritt. MICRION 9500 EX verfügt zudem über ein Spin-Etch-Feature, das ein schnelles Ätzen einer größeren Probe mit einem Durchmesser von bis zu 3,6 "ermöglicht. 9500 EX verfügt über ein ergonomisches Design und bietet überlegenen Komfort bei Fräsprozessen. Seine Kipp- und abnehmbare Kammer ermöglicht einen einfachen Zugang zu Proben, wodurch es einfach ist, die Einheit zum Fräsen verschiedener Größen und Arten von Proben auf- und abzubauen. FEI/MICRION 9500 EX wurde mit einer ausgeklügelten Inertial-Fokussierungstechnologie mit einer hochmodernen negativen Ionenquelle entwickelt. Diese fortschrittliche Technologie bietet überlegene Leistung und Stabilität und bietet dem Benutzer die präzisesten und genauesten Ergebnisse. Die anspruchsvolle Inertialfokussiermaschine verfügt auch über fortschrittliche Strahlsteuerung und Mehrfachstrahlüberwachungstechnologien, so dass der Benutzer den Strahl genau ausrichten und den Fokus für die maximale Probenvorbereitung einstellen kann. Das integrierte Vergrößerungs- und Bildaufnahmetool ermöglicht die automatisierte kontinuierliche Bildgebung und Fokussierung. Diese Funktion ermöglicht es dem Benutzer, den Fokus automatisch einzustellen und hochauflösende Bilder der Proben entlang des Fräsvorgangs zu sammeln. Die automatisierten bildgebenden Systeme beheben auch mögliche Probleme mit dem Ionenstrahl während des Fräsvorgangs. Um maximale Sicherheit zu gewährleisten und eine Probenkontamination zu verhindern, verfügt FEI 9500 EX über eine integrierte Pumpanlage mit einem fortschrittlichen Gasströmungsmodell. Diese Anlage entnimmt luftgetragene Partikel aus der Mahlkammer und schützt die Probe vor weiteren Verunreinigungen. MICRION 9500 EX bietet eine Vielzahl von Ionenstrahl-Optionen, von Breitstrahl-Ionen (E-Beam) bis zu fokussierten Strahl-Ionen (FIB). Eine breite Palette von Ionenströmen steht zur Verfügung, die dem Anwender eine erhöhte Präzision und Genauigkeit während des Fräsvorgangs bieten. 9500 EX ist auch durch das CE-Zeichen für den Einsatz in Europa und anderen internationalen Märkten zertifiziert. Insgesamt ist FEI/MICRION 9500 EX ein fortschrittliches Ionenmahlsystem, das für eine präzise Probenvorbereitung für TEM entwickelt wurde. Die fortschrittlichen Technologien, die große Probengröße und die automatisierte Bildverarbeitungseinheit machen es zur idealen Wahl für Forscher, die unübertroffene Leistung und Komfort benötigen.
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