Gebraucht FEI Strata FIB 205 #9293814 zu verkaufen

FEI Strata FIB 205 ist ein zweistrahliges Ionenfräsgerät, das eine präzise Schnitt-und Bildgebung einer breiten Palette von Materialien ermöglicht. Dieses System wurde speziell entwickelt, um automatisierte, hochgenaue Querschnittsproben für fortschrittliche Lithographie, Elektronenspektroskopie, nanoanalytische Probenvorbereitung, Materialcharakterisierung, Fehleranalyse und Forschungsanwendungen bereitzustellen. Die Einheit umfasst einen Ionenstrahl, eine fokussierte Ionenstrahlsäule (FIB) und ein optionales hochauflösendes Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM) zur korrelierten Bildgebung. Die Ionenstrahlquelle in Strata FIB 205 ist eine Fokus-Ionen-Pistole mit einer hochenergetischen Flüssig-Metall-Ionen-Quelle auf Galliumbasis. Mit einem Strahlstrom bis 2,5 mA breitet sich ein raffinierter Strahl von Ga-Ionen durch einen kanalisierten Kristallmonochromator aus, der ein Bündel von Ionen gewünschter Energie und chemischer Zusammensetzung liefert. Dieser elektronenoptisch fokussierte Strahl durchläuft ferner eine elektrostatische Taschenlinse zur Feinstrahlmanipulation. Die FIB-Säule weist eine piezoelektrische x-y-Stufe zur nanoskaligen lateralen Steuerung und eine Quarzstufe zur präzisen vertikalen Steuerung der Probe auf. Es ist mit einer dreiachsigen automatisierten Stufe integriert, die ein mehrlagiges, mehrstufiges Richtfräsen und eine präzise Positionierung der Probe innerhalb der Fräskammer ermöglicht. Für die hochauflösende Bildgebung kombiniert eine vollständig geschlossene Schwingungsisolationstabelle mit einem automatisierten Probenfutter, Gleitdichtung, Theta-Tiefdetektor und Hintergrunddetektor mit niedrigem Hintergrund für die SEM-Bildgebung und EDX-Analyse in einer einzigen Plattform. Die FIB-Spalte verfügt über zwei Abtastmodi zum automatisierten 3D-FIB-Fräsen, nämlich Backscatter und Secondary Electron Imaging (SEI). Sowohl Backscatter- als auch SEI-Modi profitieren von dem fokussierten Ionenstrahl, der Mikrometern bzw. Nanometern die Fräsgenauigkeit ermöglicht. FEI Strata FIB 205 bietet hohen Durchsatz mit erhöhter Genauigkeit bei bis zu 10nm Auflösung und minimalem Probenschaden. Die automatisierte Maschine ermöglicht zudem eine hohe Flexibilität und ermöglicht es Forschern, von einem Material zum anderen zu wechseln, ohne die Leistung zu beeinträchtigen. Mit dem schnellen Durchbruch in Materialwissenschaft und Nanotechnologie bietet dieses hochmoderne Tool ein Werkzeug, um einen wesentlichen Beitrag zur Weiterentwicklung dieser Bereiche zu leisten.