Gebraucht PHILIPS / FEI Strata 205 #293818080 zu verkaufen

PHILIPS / FEI Strata 205
ID: 293818080
Focused Ion Beam (FIB) system.
PHILIPS/FEI Strata 205 ist eine anspruchsvolle Ionenmahlanlage, die für die hochpräzise Probenvorbereitung in den Bereichen Elektronenmikroskopie und Mikroanalyse entwickelt wurde. Dieses System mit fortschrittlicher Ionenfrästechnologie ermöglicht es Benutzern, eine präzise Materialentfernung auf Nanoskala-Ebene zu erreichen, was es zu einem unschätzbaren Werkzeug für Forschungs- und Analyseanwendungen macht, die ultrafeine Oberflächenveredelungen erfordern. Herzstück der FEI Strata 205 ist ihre Ionenquelle, die einen fokussierten Ionenstrahl erzeugt, der auf die Probenoberfläche gerichtet werden kann. Durch Bombardieren der Probe mit diesen energetischen Ionen wird Material weggesputtert, was eine kontrollierte Materialentfernung ermöglicht. Dieses Verfahren eignet sich ideal zum Ausdünnen von Proben auf die gewünschte Dicke für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) -Analyse, zum Polieren zur Beseitigung von Oberflächenschäden oder zur Vorbereitung von Querschnitten für eine detaillierte Mikrostrukturanalyse. Eines der Hauptmerkmale von PHILIPS Strata 205 ist seine Flexibilität in der Ionenstrahlsteuerung. Benutzer können Parameter wie Strahlenergie, Strom und Einfallswinkel anpassen, um den Fräsprozess an spezifische Musteranforderungen anzupassen. Diese Flexibilität ermöglicht eine präzise Kontrolle der Materialabtragsraten, so dass Proben mit hoher Genauigkeit und Reproduzierbarkeit vorbereitet werden. Zusätzlich zu seinen erweiterten Ionenstrahlsteuerungsfunktionen ist Strata 205 mit einer Reihe von Musterverarbeitungsfunktionen ausgestattet, um die Benutzererfahrung und Produktivität zu verbessern. Das Gerät verfügt über eine vielseitige Stufenmaschine, die eine einfache Probenbeladung und eine präzise Positionierung beim Fräsen ermöglicht. Automatisierte Steuerungen und Softwareschnittstellen optimieren den Probenvorbereitungsprozess weiter, sodass Anwender effizient durch das Werkzeug navigieren und komplexe Fräsaufgaben problemlos durchführen können. PHILIPS/FEI Strata 205 ist auch mit fortschrittlichen Bildgebungs- und Überwachungswerkzeugen ausgestattet, um die Probenvorbereitung zu unterstützen. Echtzeit-Bildgebungssysteme geben visuelles Feedback zum Fräsprozess, so dass Benutzer die Probendünnung überwachen und die Parameter nach Bedarf anpassen können. Darüber hinaus bieten In-situ-Überwachungswerkzeuge wie RHEED (Reflection High Energy Electron Diffraction) wertvolle Einblicke in die Probenoberflächenstruktur und -qualität beim Fräsen. FEI Strata 205 wurde mit Blick auf Benutzersicherheit und Vermögenszuverlässigkeit entwickelt. Das Modell verfügt über eingebaute Sicherheitsverriegelungen, um Unfälle zu vermeiden und den Bedienerschutz während des Betriebs zu gewährleisten. Darüber hinaus ist die Ausrüstung für Robustheit und langfristige Leistung entwickelt, so dass es ein zuverlässiges Werkzeug für anspruchsvolle Forschungsumgebungen. Insgesamt ist das PHILIPS Strata 205 Ionenfrässystem ein leistungsfähiges und vielseitiges Werkzeug für die hochpräzise Probenvorbereitung in der Elektronenmikroskopie und Mikroanalyse. Mit seinen fortschrittlichen Ionenstrahlsteuerungsfunktionen, benutzerfreundlichen Funktionen und zuverlässiger Leistung ist Strata 205 eine wertvolle Bereicherung für Forscher und Analysten, die in einer Vielzahl von Bereichen arbeiten, die ultrafeine Oberflächenveredelungen und eine präzise Materialentfernung auf Nanoskala erfordern.
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