Gebraucht AMETEK INSPECT F FEG-SEM #9276757 zu verkaufen

AMETEK UNTERSUCHT F FEG-SEM ist eine Feldemissionspistole, Elektronmikroskop (FEG-SEM) von AMETEK scannend, UNTERSUCHEN, eine Abteilung von AMETEK, Inc. Die FEG-SE ist ein analytisches Instrument, das häufig für die materialwissenschaftliche Forschung, Nanotechnologie, Halbleiterbauelementinspektion, Fehleranalyse und Reverse Engineering verwendet wird. Das FEG-SEM ermöglicht es dem Anwender, Proben mit hoher Auflösung bis zum Sub-Nanometer-Niveau zu inspizieren. INSPECT F FEG-SEM ist ein Tischplatteninstrument, das sowohl hochauflösende Untersuchungen mit Abstrahlströmen als auch große Blickfeld-Hochstromabbildungen ermöglicht. Diese Ausrüstung zeigt ein einheitliches Vakuumsystem mit einer Nanosekunde-Hochgeschwindigkeitsschaltungsklappe und ein aktives Vakuummaß, entworfen, um optimale Vakuumbedingungen zu sichern. Das FEG-SEM ist mit einer UltraBright FE Schottky Feldemissionspistole für hochauflösende Bildgebung und einem In-Column-Detektor für automatisierte Bildgebung ausgestattet. Darüber hinaus soll die Standardprobenkammer den schnellen Austausch von Proben unter Verwendung eines automatisierten Belademechanismus erleichtern. AMETEK INSPECT F FEG-SEM bietet mehrere Automatisierungsfunktionen wie automatische euzentrische Höhenverstellung und unvoreingenommene Probenübertragung für Hochdurchsatz-Bildgebung. Die Einheit ist mit Signalverarbeitung ausgestattet, um die Bildtreue zu erhöhen, einschließlich automatischer Verstärkung, automatischer Kontrast, Flachfeldkorrektur und digitaler Bildfilterung. Darüber hinaus umfasst das FEG-SEM mehrere Nachbearbeitungshilfen wie Flächenrekonstruktionen und Detektorkalibrierung. Der FEG-SEM ist mit verschiedenen Sicherheitsvorkehrungen ausgelegt, darunter einem Not-Aus-Schalter und verriegelnden Türschaltern. Eine interaktive grafische Benutzeroberfläche (GUI) vereinfacht die Bedienung und Datenerfassung. Darüber hinaus ermöglicht die modulare Maschine dem Anwender, Komponenten wie Detektoren und Probenlader für seine spezifische Anwendung zu konfigurieren. INSPECT F FEG-SEM wurde entwickelt, um Anwendern ein zuverlässiges, vielseitiges und erschwingliches Rasterelektronenmikroskop für eine Vielzahl von Anwendungen zu bieten. Das Spektrum an technischen Fähigkeiten, Präzision und Genauigkeit macht das FEG-SEM zu einem idealen Werkzeug für die materialwissenschaftliche Forschung, Nanotechnologie, Halbleitergeräteprüfung, Fehleranalyse und Reverse Engineering.