Gebraucht FILMETRICS F20 #293621612 zu verkaufen

FILMETRICS F20 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um eine hochgenaue, zerstörungsfreie Messung der Dünnschichtdicke und optischen Konstanten in einer Vielzahl von Materialien und Emissionswinkeln zu ermöglichen. Das System nutzt eine Reihe fortschrittlicher Algorithmen, um genaue, wiederholbare Messungen in Sekunden zu ermöglichen, was eine schnelle und einfache Charakterisierung von Geräteschichten und Parametern ermöglicht, die direkte Auswirkungen auf die Geräteleistung haben. FILMETRICS F 20 Einheit besteht aus zwei Hauptkomponenten: einem Messkopf und einem Bedienpult. Der Meßkopf enthält eine breite Lichtquelle, mit der die optischen Eigenschaften der Waferprobe über einen Bereich von Emissionswinkeln gemessen werden. Die Steuerungskonsole bietet eine benutzerfreundliche Schnittstelle zur Steuerung der Beispielposition und -auswahl sowie der Datenausgabeoptionen. Eine Reihe von Zubehör ist für F20-Maschine verfügbar, um die Probenmessung weiter zu erleichtern, einschließlich Linsen, Prismen, Filter und andere optische Komponenten. F 20-Werkzeug enthält eine patentierte spektrale Ellipsometrie-Detektion (SED), die optische Interferenz verwendet, um die Dicke und optische Konstanten der Probe sowie die Oberflächenrauhigkeit genau zu messen. Dies ermöglicht präzise und wiederholbare Messungen in Sekunden, ohne dass Probenvernichtung und Probenhandhabung erforderlich sind. Das SED-Modell ermöglicht auch die genaue Erfassung und Verfolgung von Dünnschichtmesstechnik und anderen Materialparametern. FILMETRICS F20-Geräte bieten eine Reihe von Datenanalyseoptionen, mit denen Benutzer die erforderlichen Parameter genau berechnen und die Ergebnisse visualisieren können. Das System kann darüber hinaus Datenausgänge in gängigen Formaten wie ASCII, CDF und binär bereitstellen, um den Datenaustausch und die Analyse zu vereinfachen. FILMETRICS F 20 Einheit ist in der Lage, präzise, wiederholbare Messungen für eine Reihe von Materialien, einschließlich Halbleiter, Metalle und dielektrische Schichten. Die Maschine bietet eine ideale Plattform für Forscher, die dünne Schichten und Oberflächeneffekte für eine Vielzahl von Geräten und Anwendungen präzise und schnell charakterisieren möchten.