Gebraucht ACCRETECH / TSK Win-Win 50-1600 #9257400 zu verkaufen

ACCRETECH / TSK Win-Win 50-1600
ID: 9257400
Inspection systems.
ACCRETECH/TSK Win-Win 50-1600 Mask & Wafer Inspection Equipment ist ein halbautomatisches Inspektionssystem zur Inspektion mikroelektronischer Komponenten auf einem Wafer. Das Gerät verfügt über ein optisches Mikroskop mit 25 Mikrometer Auflösung und einer CCD-Kamera, die Waferbilder mit scharfer Präzision aufnehmen kann. Das Mikroskop wird auf eine XYZ-Stufe montiert, was eine präzise 3-Achsen-manuelle Bewegung der Probe zur effektiven Inspektion aller gewünschten Bereiche ermöglicht. TSK Win-Win 50-1600 kann auch mit integrierten Technologien wie einem 4-Achsen-Auto-Stage-Controller, einer automatisierten Stufenpositioniermaschine und Autofokus ausgestattet werden, die es dem Bediener ermöglicht, Inspektionswege zu programmieren und das Bild genau über das Musterziel zu bewegen. ACCRETECH Win-Win 50-1600 verfügt über erweiterte Bildverarbeitungsfunktionen, um Fehler, Kantenausrichtung, Registrierungsfehler und Musterkontinuität genau zu erkennen. Das Werkzeug kann verwendet werden, um verschiedene Arten von Mustern zu überprüfen, einschließlich Linie, Raum, Kontaktbohrung, über Bohrung und Overlay-Strukturen. Es bietet leistungsstarke Funktionen wie True Color Imaging, Subtraktion der Hintergrundbeleuchtung, erweiterte Algorithmen zur Rauschentfernung, Farbmusterextraktion und Schattenmapping. Alle diese Funktionen kombinieren zuverlässige und präzise Ergebnisse zu liefern. Das Asset kann in Auswertungssoftware-Pakete von Drittanbietern wie Silicon Vision, EAGLE und Xtreme integriert werden. Auf diese Weise kann das Modell eine automatisierte Fehlerklassifizierung und Vektoranpassungsfunktionen für eine verbesserte Wafersteuerung und -analyse bereitstellen. Darüber hinaus verfügt Win-Win 50-1600 über eine benutzerfreundliche grafische Oberfläche, die eine schnelle Mustereinrichtung und Inbetriebnahme ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Gerät über einzigartige Funktionen wie Gigglebot-Steuerung und Wafer-Mapping, die eine einfache Bearbeitung und Einrichtung von Mustern ermöglichen. ACCRETECH/TSK Win-Win 50-1600 ist eine zuverlässige und effiziente Lösung zur Inspektion unterschiedlichster mikroelektronischer Bauteile auf Wafern. Mit seiner intuitiven Benutzeroberfläche, fortschrittlichen Bildverarbeitungstechnologien und der Kompatibilität mit Software von Drittanbietern ermöglicht das System eine effiziente und hochpräzise Fehlererkennung und -analyse.
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