Gebraucht ACCRETECH / TSK Win-Win 50-1600 #9353791 zu verkaufen

ACCRETECH / TSK Win-Win 50-1600
ID: 9353791
Wafergröße: 12"
Bright field inspection system, 12".
ACCRETECH/TSK Win-Win 50-1600 ist eine hochentwickelte Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die den Anforderungen der heutigen modernen Halbleiterherstellung gerecht wird. Es kann gleichzeitig folgende Aufgaben erfüllen: Maskeninspektion, Waferinspektion, Messtechnik und Fehlerinspektion. TSK Win-Win 50-1600 nutzt die Modulated Bright Field Inspector (MBI) Technologie für die optische Maskeninspektion, die bis zu 10 x 10nm3 Auflösungsfunktionen bietet. Das MBI-System ermöglicht es, auch kleinere High-End-Halbleiterbauelemente bis zu 4x schneller als herkömmliche Maskeninspektionsplattformen zu inspizieren und bietet gleichzeitig ultrarauscharme Bildgebung, die eine bessere Erkennung auch kleinster Fehler ermöglicht. Die Wafer-Inspektionsmöglichkeiten des Geräts umfassen Overlay-Messung, Musterplatzierung, Fehlerinspektion, Overlay-Vergleich und Auto-View-Feldmessung. Die Wafer-Inspektion kann anhand einer Vielzahl von Prüfkriterien, einschließlich Level1, Level2 und Level3, die auf ULK-Standardregeln basieren, präzise und schnell durchgeführt werden. ACCRETECH Win-Win 50-1600 unterstützt auch Standardprozesse und Technologien wie IMEC, Black-background, Dark-Background, HP-RGB, HP-RGBZ und LEFT und RIGHT Gate. Win-Win 50-1600 bietet auch messtechnische Fähigkeiten wie Profilmessung, Skalierung, Neigungsmessung, Filmdickenmessung, Messung von Mikropunkten/Löchern und Musterschiefe, die notwendig sind, um Maskenmerkmale zu bewerten, um sicherzustellen, dass sie Industriestandards entsprechen. Die Maschine verfügt auch über Fehlerinspektion, die eine breite Palette von elektrischen, optischen und mechanischen Defekten erkennen kann, einschließlich Tonhöhe, Überbrückung, offen/kurz, Spaltung, Kontaktloch, Pinhole und Ausschuss. ACCRETECH/TSK Win-Win 50-1600 ist einfach in Produktionslinien für verbesserten Durchsatz und Qualität zu integrieren. Dank seiner verbesserten Komponentenarchitektur, flexibler Vernetzung und fortschrittlicher Energieeinsparfunktionen bietet es hervorragende Leistung und Zuverlässigkeit. Es unterstützt auch eine breite Palette von Linsen und Bühnenkonfigurationen, um den Bedürfnissen verschiedener Halbleiterprodukte gerecht zu werden. Insgesamt ist TSK Win-Win 50-1600 ein ideales Masken- und Wafer-Inspektionswerkzeug für moderne Halbleiterfabriken, die nach verbesserten Erträgen und Fehlerreduzierungen suchen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor