Gebraucht ACCRETECH / TSK Win-Win 50-A5000 #9178496 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK Win-Win 50-A5000 Mask & Wafer Inspection Equipment ist ein umfassendes, hochpräzises Werkzeug, das eine umfassende Lösung für die Inspektion von Halbleitermasken und Waferdefekten bietet. Das System ist robust und zuverlässig und bietet eine hohe Genauigkeit und Zuverlässigkeit. Es bietet eine umfassende Reihe von Funktionen, die helfen, jede Art von Maske, Wafer oder opto-elektronische Geräte Defekte zu diagnostizieren. Das Gerät nutzt eine fortschrittliche Inspektionstechnologie, die eine mikroskopische Bildgebungsmaschine mit fokussierten Ionenstrahlen und Atomkraftmikroskopietechniken kombiniert. Diese Integration ermöglicht ein viel höheres Maß an Detailgenauigkeit bei der Analyse von Strukturen bis hin zu Nanometerwerten sowie der Detektion nicht sichtbarer Defekte oder Deformationen. Das bildgebende Werkzeug besteht aus einem bezeichnungsfähigen Abtastbereich mit optischer und Röntgenfähigkeit sowie automatischer Einstellung von Sichtfeldern. Das Asset bietet auch fortschrittliche SEM/FIB-Bildgebung mit parallelem Bildgebungsmodell und automatisierter Nähfunktion für nahtlose Bildfärbung, so dass es ideal für die Rückgabe umfangreicher digitaler Bilder von komplexen oder schwierigen Fehlern ist. TSK Win-Win 50-A5000 ist mit einer hochpräzisen Scangenauigkeit ausgestattet und eignet sich somit für strenge Qualitätskontrollen und Produktionsaufgaben. Es verfügt außerdem über eine automatisierte und hochpräzise Ausrichteinrichtung, die in Verbindung mit einer passenden Bildaufnahmemöglichkeit die Erfassung sehr kleiner Verformungen in der Masken- oder Waferform ermöglicht. Dieses System kann die Ätzsilhouette, den Ätzwinkel und die Ätzsenke genau lesen. Darüber hinaus ist die Einheit in der Lage, alle strukturellen Anomalien in der Maske oder dem Wafer wie Defekte, Risse und ungleichmäßige Formen genau und schnell zu erkennen. Darüber hinaus bietet ACCRETECH Win-Win 50-A5000 eine breite Palette leistungsstarker integrierter Tools zur Vereinfachung der Masken- und Wafer-Fehlererkennung und -analyse. Dazu gehören eine Reihe benutzerfreundlicher Scan- und Datenvergleichsfunktionen sowie ein umfassender Satz von Software-Tools zur Vorbereitung und Übertragung von Daten über Netzwerkverbindungen hinweg. Darüber hinaus bieten die eingebauten optischen Streu- und Reflexionsdetektoren (OSR-Detektoren) verschiedene Betriebsarten, die dazu beitragen, selbst kleinste Fehler von glatten Oberflächen zu erkennen und zu unterscheiden. Insgesamt bietet Win-Win 50-A5000 Mask & Wafer Inspection Machine ein leistungsfähiges Paket an Funktionen und Funktionen, mit denen Benutzer praktisch jede Art von Halbleitermaske oder Wafer-Defekten mit höchster Genauigkeit und Zuverlässigkeit identifizieren und adressieren können. Das Tool ist für den Einsatz in F&E und Produktionsumgebungen optimiert und gewährleistet maximale Produktivität, Kosteneffizienz und Qualitätssicherung.