Gebraucht ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3000 #9383425 zu verkaufen

Die ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3000 ist eine hochmoderne Masken- und Waferinspektionsanlage zur hochgenauen Messung und Analyse von dünnen Schichten, Metallen, Isolatoren und anderen Substratmaterialien in der Halbleiterindustrie und verwandten Industrien. IR3000 bietet sowohl kontaktlose als auch berührungslose Messungen von Dick- oder Dünnschichtschichten und kann Messungen für verschiedene Geometrietypen einschließlich Rund- und Längsformen liefern. ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3000 verfügt über ein integriertes, automatisiertes Wafer- und Probenhandhabungssystem mit einem hochauflösenden Mikroskop und Prozesssteuereinheit für einen vollautomatischen Inspektionsprozess. Die optimierte Software-Schnittstelle unterstützt sowohl manuelle als auch automatisierte Operationen und umfasst betriebliche Funktionen wie Kalibrierung, Datenerfassung, Datenanalyse und Reporting. IR3000 bietet auch eine breite Palette von automatisierten Messmöglichkeiten, einschließlich optischer Messungen von Dicke, Reflektivität, Widerstand und Wellenfrontfehlern. Das AMS ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3000 ist mit hochpräzisen Autofokusoptiken ausgestattet, die genaue Messungen von bis zu 6 Partikeln pro μ m Merkmalsgrößen ermöglichen. Das Gerät ist in der Lage, die kleinsten Merkmale genau und wiederholbar zu messen. Die ausgeklügelte Optikmaschine bietet zudem leistungsstarke Analysefunktionen zur Messung lokalisierter Merkmale wie Diskreten und Vias. IR3000 verfügt über ein leistungsstarkes Laserbildwerkzeug, das Fehler eines Arrays von Materialien ab 140nm erkennen und abbilden kann. Seine erweiterten bildgebenden Funktionen ermöglichen es Benutzern, in Bilder von Live (oder Echtzeit) atomistische Bilder von Strukturen mit beispiellosen Details auf der mikroskopischen Skala zu zoomen. ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3000 wurde entwickelt, um konsistente und gleichmäßige Leistung in sauberen und kontaminierten Umgebungen zu bieten. Sein robustes Design bietet überlegene Leistung bei rauen Umgebungsbedingungen und garantiert höchste Qualität bei allen Tests. Seine dynamischen messtechnischen Fähigkeiten umfassen die Fähigkeit, Fehlausrichtungen, gut proportionierte Topographie und Profilmessungen mit höchster Genauigkeit zu messen und zu quantifizieren. Als vielseitiges und zuverlässiges Werkzeug ist die AMS- IR3000 eine ideale Wahl für Labore, F & E-Institute und Unternehmen, die präzise, wiederholbare Messungen in der Forschung und Produktion von mikroelektronischen Komponenten und Geräten benötigen. Durch die Bereitstellung von hochpräzisen Messungen verschiedener Materialien und die Fähigkeit, mikroskopische Merkmale umfassend zu analysieren, ist ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3000 eine ausgezeichnete Wahl für die strenge Analyse und Qualitätskontrolle von Halbleiterbauelementen.