Gebraucht ALLTEQ LFI 3010 #9028586 zu verkaufen

ALLTEQ LFI 3010 Mask & Wafer Inspection Equipment ist eine automatisierte, hochpräzise, berührungslose, dreidimensionale Inspektions- und Messtechnik-Plattform für Halbleiterhersteller oder andere Branchen, die Fehlerinspektionsmöglichkeiten erfordern. Es nutzt Laserinterferometrie auf einer Silizium-Waferoberfläche, um Fremdmaterial, Unvollkommenheiten und andere Anomalien genau zu erkennen, zu analysieren und zu messen. Das System besteht aus einer mehrachsigen Stufe, Laserinterferometer, Kamera, Monitoren zum Anschluss an einen Computer, Laserquelle und automatisierte Steuerungssoftware. Die Bühne ist so konzipiert, dass sie sich um eine Probe dreht, sodass der Laserstrahl das Oberflächenprofil des Wafers nachvollziehen kann. Das Laserinterferometer misst das Oberflächenprofil dreidimensional bis zu einer Genauigkeit von 1nm. Eine monochrome Digitalkamera fotografiert reflektierende Objekte und Verdeckungen auf der Oberfläche des Wafers. Eine Laserquelle beleuchtet Muster aus der Maske auf den Wafer, um 3 Nanometer Defekte zu erkennen. Die Softwareeinheit ist so programmiert, dass Fehler bis zu 3 Nanometer und Abweichungen im Oberflächenprofil erkannt und erkannt werden. Es kann eine breite Palette von Fremdmaterial wie Staub, Kratzer, Kontamination und andere Ungleichmäßigkeiten erkennen. Die Maschine kann programmiert werden, um einen ganzen Wafer zu scannen, den Fehler zu erkennen, ihn zu charakterisieren, in 3D zu messen und nach Schweregrad zu klassifizieren. Sobald der Fehler erkannt ist, wird er nach Schweregrad klassifiziert und ein 3D-Bild erzeugt. LFI 3010 ist so konzipiert, dass es benutzerfreundlich und einfach zu bedienen ist. Es ist mit einer praktischen grafischen Benutzeroberfläche (GUI) ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, das automatisierte Vision-Tool zu überwachen und auf seine Funktionen zuzugreifen. Der automatisierte Betrieb des Asset ermöglicht es dem Benutzer, Fehler am Wafer schnell zu erfassen, zu analysieren und auszuwerten. ALLTEQ LFI 3010 ist ideal für Halbleiterunternehmen oder jede andere Branche, die die Erkennung und Analyse von Defekten und Unvollkommenheiten erfordert. Es ist ein unschätzbares Werkzeug für Qualitätskontrolle, schnelle Problemlösung und Produktentwicklung. Dank seiner extrem hohen Präzision und berührungslosen 3-dimensionalen Inspektions- und Messtechnik ist LFI 3010 eine kostengünstige und effiziente Lösung zur Messung und Erkennung kritischer Defekte und Unvollkommenheiten.