Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS 0020-1412 #9361620 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS 0020-1412 ist eine fortschrittliche Masken- und Waferinspektionsanlage, die entwickelt wurde, um Fehler an Halbleiterphotomasken und Wafern schnell und genau zu identifizieren. Das System beinhaltet hochauflösende optische Bildgebung und fortschrittliche automatisierte Bildanalysesoftware zur Erkennung und Charakterisierung von Fehlern. Es ist in der Lage, bis zu 30 Wafer pro Stunde zu inspizieren und kann Defekte bis zu 1 Mikron erkennen. Das Gerät besteht aus vier Komponenten: der Lichtquelle, dem optischen Inspektionskopf, der Maske oder Waferstufe und der Bildanalysesoftware. Die Lichtquelle strahlt eine diffuse Beleuchtung aus, die für unterschiedliche Prüfbedingungen einstellbar ist. Der optische Kopf besteht aus einem Langstreckenmikroskop, einer hochauflösenden Kamera und einer Linsenmaschine, die ein sehr weites Sichtfeld und hohe Vergrößerungsmöglichkeiten ermöglicht. Die Maske oder Waferstufe ist mit einem präzise motorisierten XY-Scanwerkzeug ausgelegt, das eine sehr genaue, hochauflösende Abtastung der Probe ermöglicht. Schließlich besteht die Bildanalysesoftware aus Fehlererkennungs- und Charakterisierungsalgorithmen, die zur Erkennung und Klassifizierung von Fehlern programmiert sind. Diese Software ist in der Lage, die Bilder zu analysieren und einen detaillierten Bericht über etwaige Fehler zu geben. Es kann auch mehrere Analyseaufgaben ausführen, z. B. quantitative Analysen, Fehlerpositionszuordnungen, doppelte Indizierungen und Formelementgrößen. Das Asset verfügt außerdem über eine grafische Benutzeroberfläche (GUI), die Benutzern eine einfache Kontrolle über die Modellparameter und -einstellungen ermöglicht. Die GUI ermöglicht es Benutzern auch, die Daten und Bilder von der Ausrüstung zu überprüfen. Insgesamt ist AMAT 0020-1412 ein leistungsstarkes und fortschrittliches Masken- und Wafer-Inspektionssystem, das hochauflösende Bildgebung, präzises motorisches Scannen und fortschrittliche Software-Algorithmen kombiniert, um Fehler auf Halbleiterfotos und Wafern schnell und genau zu erkennen. Das Gerät ist einfach zu bedienen und kann helfen, Produktionserträge zu verbessern und Kosten zu senken.