Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS Compass 200 #293765220 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS Compass 200
ID: 293765220
Wafer inspection system Non-functional Mainframe Load port Console.
AMAT/APPLIED MATERIALS Compass 200 Mask & Wafer Inspection Equipment ist ein kompaktes, innovatives Werkzeug, das die Leistung von Halbleiterherstellungsprozessen verbessert. Dieses System verwendet eine fortschrittliche bildgebende Technologie, um Fehler in der Metallisierung, strukturierte Materialien und andere geringe Variationen innerhalb einer bestimmten Waferoberfläche zu erkennen. AMAT Compass 200 Mask & Wafer Inspection Unit verwendet eine bildgebende Maschine, die die neueste 3D-Sensortechnologie, digitale Optik, hochauflösende Kameras und schnelle bildgebende Algorithmen integriert. Diese fortschrittliche Bildgebungstechnologie ermöglicht das Scannen und Analysieren mehrerer Bilder auf dem Wafer und erkennt selbst die subtilsten Fehler schnell. Jede Komponente ist in der Lage, 0,3 µm Defekte mit Leichtigkeit mit Oberflächenrauhigkeit von 0,9 µm bis 5 µm zu erkennen. APPLIED MATERIALS Compass 200 Mask & Wafer Inspection Tool enthält eine breite Palette von leistungsstarken Funktionen bei der Erkennung von subtilen und extremen Defekten zu unterstützen. Dazu gehören die Möglichkeit, messtechnische Fehler, breite Substratvariationen und geringe Linienbreitenvariationen zu erkennen. Das umfassende Spektrum an Fehlertypen, die erkannt werden können, umfasst Ecken, kleine Punkte und Lochformen. Diese Eigenschaft eignet sich besonders für Chip-Scale-Verpackungen, da sie mühelos Fehler an der Chip-Oberfläche erkennen können, die kleiner als die Gerätegröße sind. Dieses Modell ist auch mit einer breiten Palette von Funktionen und Funktionen verfügbar, einschließlich automatischer Ausrichtung, einer erweiterten Wafer-Mapping-Ausrüstung und spezialisierter Bildgebungssoftware. Darüber hinaus bietet es ein ergonomisches Design, eine leichte und kompakte Zusammensetzung und eine verbesserte Prozesssteuerung. Compass 200 Mask & Wafer Inspection System ist eine fortschrittliche, aber kostengünstige Fehlererkennungs- und Analyseeinheit, die die Leistung von Halbleiterprozessen deutlich verbessert. Mit seinen schnellen Scanfunktionen und einer Vielzahl von Entwicklungsfunktionen ist diese Maschine ideal für die Herstellung fortschrittlicher Chip-Maßstab-Verpackungen.
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