Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS Complus 3T #9266644 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

AMAT / APPLIED MATERIALS Complus 3T
Verkauft
ID: 9266644
Darkfield inspection system.
AMAT/APPLIED MATERIALS Complus 3T ist eine Hochleistungs-Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die schnelle, genaue und wiederholbare Inspektionsergebnisse liefert. Das System kann Fehler in Halbleitermasken und Wafern mit einem Minimum an Fehlalarmen schnell erkennen. Es verfügt über erweiterte Kantenerkennungs- und Sub-Pixel-Kantenerkennungstechnologien, mit denen schwache Merkmale und komplexe Geometrien wie Linien und Leerzeichen mit 1X-Auflösung identifiziert werden können. Dies führt zu einer sehr genauen strukturierten Fehleruntersuchung mit hoher Durchsatz- und Ausbeuteverbesserung. Die Einheit basiert auf der bewährten und echten Manufacturing Grade Inspection (MGI) -Technologie, die in der Halbleiterindustrie weit verbreitet ist. Das AMAT Complus 3T-Benutzererlebnis wird durch eine intuitive Benutzeroberfläche verbessert, die einfach zu navigieren und zu bedienen ist. Die Maschine kann schnell eingerichtet werden, mit Parametern, die leicht einstellbar sind, um verschiedene Masken und Wafer-Designs aufzunehmen. Dies ermöglicht in Kombination mit seiner globalen Optimierungsfunktion eine schnelle und effiziente Fehleranalyse und -berichterstattung. ANGEWANDTE MATERIALIEN Complete 3T Maske und Wafer Inspektionswerkzeug können umfassende zerstörungsfreie Inspektion Abdeckung der Geräte zur Verfügung stellen. Seine fortschrittliche Apertur-Array-Technologie ist in der Lage, automatisch die besten Inspektionsauflösungs- und Belichtungseinstellungen für die Bilderfassung höchster Qualität auszuwählen. Seine Vorverarbeitungsfähigkeit ist robust, so dass sowohl helle als auch dunkle Feldfehler extrahiert und klassifiziert werden können, wodurch potenzielle Probleme schnell erkannt und zuverlässige Wafer-Zertifizierungen bereitgestellt werden. Das Asset verfügt über eine Reihe vollautomatischer Modellfunktionen zur Fehlererkennung und -klassifizierung sowie eine ausgezeichnete Fehlerberichterstattung. Seine parallele Inspektionsarchitektur ermöglicht eine sehr schnelle Datenerfassung und -analyse und seine vielseitige Schnittstellenkonnektivität ermöglicht eine einfache Verbindung mit externen Datenbanken, Datenquellen und Netzwerken. Complus 3T ist eines der vielseitigsten und genauesten Masken- und Wafer-Inspektionssysteme auf dem Markt und ist auf die Qualitäts- und Defektionskontrolle in der Produktion zugeschnitten. Seine Schnelligkeit und Genauigkeit kombiniert mit intuitiver Benutzeroberfläche, umfangreicher Automatisierung und leistungsstarken Bildverarbeitungsfunktionen machen es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für jede Produktionslinie, die hohe Erträge an fehlerfreien Produkten erzielen möchte.
Es liegen noch keine Bewertungen vor