Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS Excite #9072231 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS Excite
ID: 9072231
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2004
High Speed Particle Detection System, 8" Inspects device wafers after processing is completed or inspects blanket films Blanket films at over 60 wafers per hour and patterned wafers at over 45 wph 0.1μm particle detection on unpatterned silicon Windows operating system CE Marked SECS/GEM Cassette to Cassette Robot Flat Screen Monitor 2004 vintag
AMAT/APPLIED MATERIALS Excite ist eine umfassende Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die für überlegene Bildtreue, 3D-Messtechnik und Fehlerisolierung für die Herstellung von Halbleitern der nächsten Generation entwickelt wurde. Das System ist mit fortschrittlicher Optik, Sensoren und digitalen Bildbibliotheken ausgestattet, die es ermöglichen, Oberflächen- und Untergrunddefekte schnell und präzise zu erkennen. Es bietet erweiterte Stereo-Farbbildgebung auf Wafern bis zu acht Zoll in der Größe und bis zu drei Zoll dick. Die automatisierte Fehlercharakterisierung und das Bordmikroskop verbessern die Genauigkeit der Fehlererkennung weiter. Das Gerät verfügt über drei Abbildungsmodi und zwei Beleuchtungssysteme, die je nach Probenmerkmal und gewünschtem Ergebnis unterschiedliche Ergebnisse liefern. Seine Hellfeldeinheit eignet sich hervorragend für die Untersuchung von Mustern, während seine Dunkelfeldausgabe ideal für die Untersuchung von Oberflächen- und Untergrunddefekten ist. Seine UV-Fluoreszenzleistung ermöglicht es ihm, Verunreinigungen und Partikel zu identifizieren, während seine Oberflächenrelief-Bildgebungsfähigkeit es ermöglicht, dreidimensionale Ansichten von Wafern und Masken zu nehmen. Darüber hinaus nutzt AMAT Excite fortschrittliche Software zur Fehlerklassifizierung, um die Genauigkeit und Berichtsgenauigkeit weiter zu verbessern. Die Software ist in der Lage, Fehlerklassen automatisch zu erkennen, was eine einfachere Analyse der Ergebnisse ermöglicht. Es enthält auch spezialisierte Bildanalysemodule, mit denen Benutzer ausgewählte Fehler entweder in Vollfeld- oder Fokusebenen isolieren und anzeigen können. Schließlich umfasst die Maschine eine Vielzahl von Bildvisualisierungsfunktionen und leistungsstarke Support-Plattformen. Diese Support-Plattformen ermöglichen es Benutzern, Bilder schnell und einfach abteilungsübergreifend zu teilen sowie schnell Ergebnisse für Vergleiche und Fehleranalysen abzurufen. Insgesamt ist APPLIED MATERIALS Excite eines der fortschrittlichsten Masken- und Wafer-Inspektionssysteme auf dem Markt. Seine überlegene Optik, bildgebende Funktionen und fortschrittliche Software sorgen dafür, dass Kunden Fehler auf Oberflächen und Substraten schnell, genau und zuverlässig erkennen und isolieren können.
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