Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 720 #9093244 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 720 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um Fehler in Halbleiterlösungen schnell zu erkennen, zu analysieren und zu charakterisieren. Das System ist mit fortschrittlichen Optiken und Algorithmen ausgestattet, so dass Benutzer Fehler genau erkennen und messen können. Es ist auch in der Lage, sehr kleine Partikel zu detektieren und kann auf mikroskopischer Ebene Defekte auf Merkmals- und Waferebene erkennen und unterscheiden. AMAT WF 720 verfügt über eine breite Palette von Funktionen, die es zu einer idealen Wahl für Inspektionslösungen machen. Das breite Sichtfeld, die fortschrittliche Bildgebungsoptik und die Algorithmen ermöglichen eine präzise und genaue Analyse. Die automatisierte Prozesssteuerung sorgt dafür, dass bei jeder Inspektion die gleichen Ergebnisse erzielt werden. ORBOT WF 720 verfügt auch über eine langlebige LED-Beleuchtungsmaschine, die eine stabile Beleuchtung für eine genaue Analyse sowohl auf Masken- als auch auf Waferebene bietet. WF 720 unterstützt eine breite Palette von Materialien, darunter Silizium, Galliumarsenid, Galliumnitrid, Galliumphosphid, Aluminiumgalliumarsenid, Kapton, Quarz und viele mehr. Sein berührungsloser, zerstörungsfreier Betrieb ist auch ideal für die schnelle und effiziente Analyse von Proben. Es ist in der Lage, Defekte so klein wie 10nm und mit einer Auflösung von bis zu 32x Vergrößerung zu analysieren. Bei defektfreien Wafern können APPLIKATIONSMATERIALIEN WF 720 verwendet werden, um winzige Partikel an der Maske und auf Waferebene schnell zu identifizieren. Das Tool verwendet Deep-Learning-Algorithmen, um Fehler effektiv zu erkennen, zu identifizieren und zu kategorisieren. Dies hilft dem Benutzer, den Fehlerort genau zu bestimmen und schnell und genau zu verursachen. Insgesamt ist AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 720 eine vielseitige, hochpräzise Masken- und Wafer-Inspektion, die einfach zu bedienende und zuverlässige Analyselösungen bietet. Dank seiner breiten Palette an Funktionen und fortschrittlichen Algorithmen ist es eine gute Wahl für alle Halbleiterinspektionslösungen.