Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 720 #9097133 zu verkaufen
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ID: 9097133
Wafergröße: 6"
Weinlese: 1997
Wafer inspection system, 6", 1997 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 720 ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die für fortgeschrittene Halbleiterinspektions- und messtechnische Anwendungen entwickelt wurde. Es verfügt über ein schnelles und hochauflösendes Bildgebungssystem, erweiterte Algorithmen und erweiterte Optik. Seine leistungsstarken Inspektionsmöglichkeiten ermöglichen eine genaue, wiederholbare und zuverlässige Wafer-Fehlererkennung, wodurch die Technologie in einer Vielzahl von Halbleiterherstellungsprozessen verwendet werden kann. Das Gerät besteht aus einer Hochleistungs-Laserbeleuchtungsquelle, Präzisionsoptik und Optik, um das Licht zu fokussieren. Es verwendet ein CCD-Bildsensor-Array, um kontinuierliche Bilder mit Subpixelauflösung zu erfassen. Die Hochleistungs-Beleuchtungsquelle bietet eine hochauflösende Bildgebung und die Optik ermöglicht es dem Strahl, sich auf die Oberfläche der Maske oder des Wafers zu fokussieren. Die verwendete Optik ermöglicht es der Maschine auch, den Abstand zwischen benachbarten KE-Elementen auf dem Wafer zu messen, um Ausrichtungsfehler zu erkennen. AMAT WF 720 bietet fortschrittliche Automatisierungstechnologie und Programmierbarkeit, die eine automatisierte und wiederholbare Waferinspektion, Messtechnik und Fehlererkennung ermöglicht. Das Tool enthält auch fortschrittliche Software- und Bildverarbeitungsalgorithmen, um Messdaten zu analysieren und Fehler in Wafern zu erkennen. Es verfügt über eine Messrate von bis zu 6.200 wpm, so dass hohe Durchsatzprüfungen möglich sind. Die Anlage ist mit einem kompakten und leichten Gehäuse ausgestattet, das für eine schnelle und einfache Installation konzipiert ist. Es wird von einem Spannungswechselrichter angetrieben, der eine schnelle und flexible Hoch-/Niederschaltung für die Wartung ermöglicht. Es enthält auch einen High-Speed-E/A-Port zur Schnittstelle mit anderen Systemen. ORBOT WF 720 bietet Inspektionsmöglichkeiten für Masken und Wafer bis 8-Zoll-Durchmesser und bietet eine hochauflösende Bildgebung und Fehlererkennung. Das Modell ist zertifiziert und/oder entspricht den CE- und ISO-Normen und gewährleistet beste Leistung in einer Vielzahl von industriellen Umgebungen. Das Gerät wurde entwickelt, um die anspruchsvollen Anforderungen der Halbleiterinspektion zu erfüllen und ist somit ein ideales Werkzeug für die hochpräzise Prozesssteuerung.
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